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电子式薄膜测厚仪（0.1μm）
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更新日期：2026/9/4 15:28:49
生 产 地：中国大陆
产品型号：
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李**
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详细内容
电子式薄膜测厚仪（0.1μm）
适用于2mm范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
技术参数
详情咨询济南日高分析仪器有限公司 陈小姐
1．测量范围：0～2mm
2．分 辨 率：0.1μm
3. 测试速度:10次/min
4．测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
5．接触面积：50mm2（薄膜），200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种
6．电 源：AC 220V 50Hz
7．外形尺寸：460mm×350mm×365mm
标 准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
配 置
标准配置：主机、标准量块一套、微型打印机
选用配置：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码
李环环
电子式薄膜测厚仪（0.1μm）
