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BQS-37a 工频介电常数测试仪

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更新日期：2025/12/25 10:33:07

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产品型号：BQS-37a

简单介绍：工频介电常数测试仪采用测微计电极时，数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.000 3，数量级0.0002的介对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的晶度时，可采用试样上不加

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详细内容

工频介电常数测试仪采用测微计电极时，数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.000 3，数量级0.0002的介对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的晶度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率不都过10的管状试样，醉方便的电极是用金属筋、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电极;烧管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分氮周上。

对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则只需要进行概间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量网电极试样时.边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%～40%。根据目前有关这些电容资料，计算边缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为25%。因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小，在弟5章和附录A中所规定的晶度是;电容率晶度为±1%，介质损耗因数的晶度为±（5%± 0.05》，这些晶度至少取决于三个因素;即电容和介质损耗因数的实测晶度;所用电极装置引起的这些量的校正晶度，极间法向直空电容的计靠晶度（见表 1），在较低频率下，电容的测量晶度能达士（0.1%士0.02 pF），介质损耗因数的测量晶度能达±（2%± 0.00 05）。在较高频率下，其误差增人，电容的测量晶度为±（0.5%±0.1 pF），介质损耗因数的测量晶度为±（2%±0，0002）。

所示的试验池也可用件电阻率的测定，IEC 60247，1978对此已详细叙述.由于有些液体如氧化物，其介质损耗因数与电授材料有明显的关系，不锈钢电吸不总是醉合适的。有时，用铝和杜拉懈制成的电极儒得到比较稳定的结果。满足上述要求的试验施见图2～图4。电极是不锈钢的，用疆硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘。

对于带有保护电极的试样，其测量晶度只考虑慢间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几，而校正只能计算到其本身值的百分之几。如果试样厚度的测量能晶确到±0.005 mm.则对平均厚度为1.6mm的试样，其厚度测量误差能达到自分之零点儿。圆形试样的直径能测定到±0.1%的晶度，但它是以平方的形式引人谈差的，辇合这些因素，极间法向真空电容的测量误差为±0.5%。

必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。测微计电极间或不接触电极间被测试样的相对电容率可按表z，表3中相应的公式计算得来，液体绝缘材料试验池的设计对于低介质损耗因数的待测液体.电概系控醉雷要的特点县∶容易清洗、再装配（必要时）和灌注波体时不移动电极的相对位置。此外还应注意，液体需要量少，电极材料不影响液体，液体也不影响电慢材料，温度易于控制，硼点和接线能适当地屏蔽;支撑电极的地缘文架应不浸沉在液体中，还有，试验池不应含有太短的爬电距离和尖锐的边缘，否则能影响测量晶度介质损耗因数 tan6介质损耗因数 un》按照所用的测量装置给定的公式，根据测出的数值来计算。

工频介电常数测试仪BQS-37a(QS-37a)型高压电桥是本公司推出的新一代高压电桥，主要用于测量工业绝缘材料的介质损耗(tgδ)及介电常数（ε）。符合GB1409、GB5654及GB/T1693, ASTM D150-1998(2004) 固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法其采用了西林电桥的经典线路，内附0-2500的数显高压电源及100PF标准电容器，并可按用户要求扩装外接标准电容线路。

技术指标测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx 40pF—20000pF ±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ 0-1 ±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx 4pF—2000pF ±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ 0-0.1 ±1.5% tgδx±0.0001