联系我们

联系人：郭可婷

点击查看联系方式

供应分类

产品展示

偏光熔点仪（热台）

点击次数：441

价格：￥电议

更新日期：2026/9/10 12:21:17

生产地：中国大陆

产品型号：XPR-500C

简单介绍：、仪器的主要用途和特点 XPR-500型透射偏光熔点测定仪（热台）是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业最常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。偏光显微熔点测定仪XPR-500系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前领先技术，多年研究开发的结果，在国内享有绝对领先.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。

商家名片

郭**

联系我时，请说明是阿仪网看到的，谢谢!

电话: 02*******386
手机: 13******302
微信:
交换名片后展示联系方式 → →

详细内容

一、仪器的主要用途和特点
XPR-500型透射偏光熔点测定仪（热台）是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业最常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。
偏光显微熔点测定仪XPR-500系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前领先技术，多年研究开发的结果，在国内享有绝对领先.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。

二、仪器的主要技术指标

1.显微镜技术参数:

名称	规格
总放大倍数：	40X－－-630X
无应力消色差物镜	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40X/0.65
	63X/0.85
目镜	WF10X/18mm
	10X网格目镜
	10X刻度目镜
	10X分划目镜
试片	石膏1λ试片
	云母1/4λ试片
	石英楔子试片
测微尺	0.01mm
滤色片	蓝色
聚光镜	N.A.1.25带可变光栏摇摆式聚光镜
集光镜	高亮度固定式照明
载物台	360度旋转，直径160mm
移动尺	移动范围30mm×40mm
镜筒	45度平拉式三目观察（52mm⁻⁷4mm）
光源	卤素灯（6V/30W.AC 85V-230V）亮度可调

2.熔点仪技术参数:

热台组成	性能
显微精密控温仪	在 20倍物镜下工作温度可达到300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定， 30段温度编程，循环操作，能反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度 ± 0.3 ℃、记忆点读数
显微加热平台	可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1 • 起始温度室温 • 工作区加热使用面积至少 1X1厘米 • 工作区温度梯度不超过 ± 0.1 • 透光区域 2mm以上，可调 • 显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2 • 热台可以随载物台移动在加热状态下可使用 20倍物镜
注意：熔点测定（温度超过100度时，25X的物镜工作距离太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜）

三、系统数字性

XPR-500C型偏光熔点仪系统是将精锐的光学显微镜技术、的光电转换技术、尖端的计算机成像技术和精密的温控技术地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察不同温度下的偏光效果图像，并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。

四、系统组成

1、偏光显微镜XP-500　　　　　　　　　
2、电脑适配镜
3、彩色摄像器机
4、A/D转换器（图形采集设备）
5、热台
6、计算机（选购）

五、选购部分

1.偏光分析软件

2.200万像素彩色成像器,300万像素彩色成像器,400万像素彩色成像器

偏光,含热台

采购记录

优质供应

我要推广

优质信息推广广告

友情链接
热词推荐

已获得阿仪网信誉等级评定

产品展示