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探讨膜厚测试仪在测量时需要注意的事项！
点击次数：91 发布时间：2024/7/15 10:16:11
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探讨膜厚测试仪在测量时需要注意的事项！
膜厚测试仪分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
膜厚测试仪测量时需要注意的事项：
1、首先大家在用测量仪进行测试使用时，要选用与试件相似的金属磁性标准片来进行测量，不要选择差别或者区分过大的标准片来试验测量，不然会导致很大的测量误差。
2、其次用户需要把测量仪的侧头与试样表面保持垂直，不要出现任何的倾斜，否则不利于测量工作的顺利展开，会让测量任务半途而废的，变得毫无意义。
3、我们要把膜厚测量仪放置在没有磁性干扰的场所来进行测试，否则会对仪器的测量性能造成影响，使得测量仪器不能够发挥出应有的测量水平来。
4、用户在进行测量仪的测量过程中，需要保持压力的恒定，不然很容易影响到测量的读数，会给大家带来不利的影响，让大家不能记录到正确化的读数结果。
5、测量仪在使用时要让仪器测头和被测试件有直接性接触，如果两种之间有杂质存在的话，需要先进行清理方可再展开测量工作。
6、大家在使用膜厚测量仪进行测试的时候，不要在内转角处和靠近试件边缘处进行测量，这样会造成测量结果的误差，会给我们带来不便性的。让测量出来的数据是没有任何参考价值意义的。
原创作者：深圳德谱仪器有限公司
