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氧化剂比表面积测试仪
点击次数：455 发布时间：2012/12/24 10:28:52
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王**
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HYA2010-C1全自动静态容量法比表面及孔径分析测试仪
仪器外观图如下:
仪器型号：HYA2010-C1
产品名称：全自动静态容量法比表面及孔径分析测试仪
产品型号;HYA2010-C1
产品类别：物理分析仪
性能参数：
测试方法:借助于气体吸附原理，静态真空容量法。
2.比表面积分析范围为0.0005 m2/g至无上限。
3.孔径的测量范围为3.5埃至5000埃。
4.微孔区段的分辨率为0.2埃。
5.孔体积最小检测: 0.0001 cc/g。
3.孔径的测量范围为3.5埃至5000埃。
4.微孔区段的分辨率为0.2埃。
5.孔体积最小检测: 0.0001 cc/g。
6.主机功能：借助于气体吸附原理（典型为氮气），吸附、脱附等温线测定。单点和多点BET比表面积。Langmuir比表面积测定。BJH介孔、大孔分析。BET比表面积测定。t-plots图法微孔分析，以及外表面积测定。as-plots微孔总面积。MP法微孔分析。可以升级可进行DFT密度函数理论；包括NLDFT理论等。
产品介绍
HYA2010-C1装有2路共4个传感器（国产唯一），一路对P0适时测试，确保P0的准确性，另1路对1个样品同时进行分析，可以测试1个样品的比表面积和孔径分布（包括超微孔）。 （注：加装有分子泵）。
原创作者：北京中科晖玉科技有限公司
