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显卡/主板老化测试柜/老化房/老化试验室

显卡/主板老化测试柜/老化房/老化试验室

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价格:¥1

更新日期:2026/9/1 12:25:00

生 产 地:中国大陆

产品型号:ES-ORT

简单介绍:显卡/主板老化测试柜/老化房/老化试验室适用于电脑主板及声卡、显卡等配件大批量生产企业;适用于交换机、电话机、手机、网络终端等通讯设备生产厂家;适用于厚膜、薄膜等微电子电路元件寿命老化试验;适用于电子元器件的老化筛选试验。

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详细内容

ESUNINFO显卡/主板老化测试柜/老化房/老化试验室适用于电脑主板及声卡、显卡等配件大批量生产企业;适用于交换机、电话机、手机、网络终端等通讯设备生产厂家;适用于厚膜、薄膜等微电子电路元件寿命老化试验;适用于电子元器件的老化筛选试验。

执行与满足标准

JB/T5520-1991干燥箱技术条件

预烧目的

对元器件进行筛选,为了移出早期故障元件,这是一种最经济的筛选方式,用来控制产品成本和质量保证,提高产品的可靠性,同时帮助决策改善系统的缺点是否将将会付出更多的代价。

老化房的特点:
1. 温度控制准确,精度高。由于采用了独特的风道系统设计及电控系统,能保持整个房间温度高度均匀性,大大高于同类产品。
2. 房间设定温度范围广,连续可调。在常温~70℃范围内可任意设定。若客户特别要求,可设计更高温度产品。
3. 房内多点温度滚动显示,监察准确,清晰。
4. 系统保护功能齐全,能确保安全长期稳定无故障运行。
5. 外形美观,施工方便,施工周期短。
主要技术指标:

类别Category
ES-ORT-A(隔离式老化房)
ES-ORT-B(整体式老化房)
特点Characteristics
产品区、负载区隔离,采用分体式负载,便于维护及控温Product area, load area, using fission, easy maintenance and load control temperature
采用组合式隔音,PID&闭环温控Using combined sound insulation, PID closed-loop control and
温度范围Temperature range
RT+10℃~100℃
温度波动度Temperature Constancy
±1.0℃
温度均匀度Temperature uniformity
±3.0℃
温度偏差Temperature deviation
±5.0℃
升温时间Heat up time
RT~100℃约55分钟Within 55min
测试架材质Test frame materials
烤漆/成型铝组合Paint/molding aluminum combination
烤漆/成型铝材/不锈钢焊接烧机台车Paint/molding aluminum/stainless steel welding machine burn
保温材质Insulation material
高密度聚胺酯泡沫High poly amino ester foam
箱门尺寸The size
双层玻璃单门式Double deck glass ChanMen type(80×210cm)/双门式Double type(160×210)
控制系统Control system
TEMI880中/英文显示触摸屏,可根据客户要求加装电脑监控系统TEMI880 screen display, English/Chinese according to customer's requirements with computer monitoring system
注:尺寸及外观根据客户要求量身订做Note: the size and appearance of customized according to customer requirements

显卡老化房,主板老化房,老化测试柜

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