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XRF-2020镀层测厚仪标准片
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更新日期:2023/7/20 12:04:48
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详细内容
X射线测厚仪X-RAY镀层膜厚仪
MicropioneerXRF-2000
XRF-2020
整机*,仪器全系均为全自动台,自动雷射对焦!
多点自动测量
XRF-2020镀层测厚仪标准片

系列型号:
规格如下图

X射线测厚仪X-RAY镀层膜厚仪
适应于各类五金电镀,电子连接器端子等。
可测金,镍,铜,锌,锡,银,钯,铑,铂,锌镍合金等镀层。
应用广泛,适应电镀生产企业,产品来料检测等。
仪器特点:
全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
功能及应用:
检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等?合金镀层:
铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
X射线X-RAY膜厚仪
MicropioneerXRF-2000
XRF-2020
仪器整机*,配置全自动台面,自动雷射对焦,多实现多点自动测量


