比表面积测量仪、孔结构测定仪

主要产品:比表面积测试仪,氮吸附比表面积测定仪,比表面检测仪,比表面测量仪,比表面积检测仪,介孔微孔分布测定仪,比表面积测量仪,BET比表面积分析仪,比表面测定仪,比表面测试仪,BET比表面分析仪,孔容积测定仪,孔径分析仪,孔径检测仪,孔径测量仪,孔径分布测定仪,孔隙度分析仪,介孔微孔分布分析仪,孔容积分析仪,孔径分布检测仪

全自动静态容量法比表面积测量仪、孔结构测定仪性能参数

测试方法及功能:氮吸附真空容量法（真空静态法）,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布分析孔结构测定,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定（单点及多点）,Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定

压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000 Torr（0-133Kpa）,0-10 Torr （0-1.33Kpa）

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度（一般误差为10%-15％）

分压范围:P/Po 可控范围达5x10－6－0.995

极限真空:4x10－2Pa （3x10－4Torr）

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等

测试气体:高纯N2气（99.999%）或其它（按需选择如Ar,Kr）

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强.

测定范围:0.01（㎡/g）－－至无上限（比表面积）;0.35nm-400nm（孔径）

测量精度:重复性误差小于1.5%

真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布测试孔结构测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命.

液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,消除因死体积变化引入的测量误差

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命.

样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理

数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.

全自动静态容量法比表面积测量仪、孔结构测定仪应用领域

金属氧化物（如氧化锌,氧化钙,氧化钠,氧化镁,氧化钡,氧化铁,氧化铜等）;磁性粉末材料（如四氧化三铁,铁氧体,氧化亚铁等）;纳米金属材料（如纳米银粉,铁粉,铜粉,钨粉,镍粉,铝粉,钴粉等）;环保行业（如颜填料,柱填料,无机颜料,碳酸钙,氧化硅,矿物粉,沉积物,悬浮物等）;无机粉体材料（如氧化钛,钛,二氧化钛等）;纳米材料（如纳米粉体材料,纳米陶瓷材料等）;稀土,煤炭,水泥,储能材料,催化剂（硅藻土）,净化剂,助滤剂,发光稀土粉末材料,粉体材料,粉末材料,超细纤维,多孔织物,复合材料等粉体和颗粒材料的比表面积测定、孔结构测定,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量检测.