用高温老化试验箱测固体继电器里的开关寿命衰减

参考标准：GB/T 2423.2-2021、IEC 60068-2-2:2020、GB/T 15519-2020

应用领域：工业控制固体继电器、工控开关元件、家电主控继电器、自动化设备电控组件

方案摘要：本方案采用高温老化试验箱模拟设备长期高温服役工况，对固体继电器进行高温带载老化与循环开关测试，统计老化前后开关寿命、导通精度、响应速度变化，量化高温老化引发的开关寿命衰减规律，评估继电器长效工作可靠性。

一、实验目的

固体继电器长期高温带载工作，内部芯片、电阻、封装材料会逐步老化，导致开关响应滞后、导通损耗增大、有效寿命大幅衰减，引发工控设备启停失灵、电路失控。常温寿命测试无法反映高温工况下的衰减特性，本试验可精准量化高温寿命损耗。

二、实验仪器、耗材、试剂

仪器：高温老化试验箱、继电器寿命测试仪、导通电阻检测仪、数据记录仪；耗材：高温长寿命型、普通工业固体继电器各30个；试剂：无水乙醇、无尘清洁液

三、实验过程

1. 取样：选取导通正常、开关灵敏、参数达标的全新继电器，测试初始开关寿命与导通参数。2. 样品处理：继电器悬空摆放，带标准负载，无堆叠挤压，保证均匀受热老化。3. 参数设置：老化温度85℃，持续恒温老化350h，全程同步开展10万次循环开关测试。

四、实验结果

350h高温老化后，长寿命型继电器剩余有效寿命衰减仅6.2%，导通电阻波动≤0.8%，开关响应无滞后；普通继电器寿命衰减27.5%，导通电阻增幅明显，11个出现开关响应滞后，3个存在轻微导通失效隐患。长寿命型合格率100%，普通型合格率63.3%。

五、数据分析

长期高温热应力会加速普通继电器内部半导体器件老化、封装材料热衰变，导致开关性能退化、有效寿命快速衰减；高温长寿命型继电器采用耐高温芯片与抗老化封装工艺，器件热稳定性强，可大幅抑制高温带来的寿命损耗与性能衰减。

六、讨论总结

高温长寿命型固体继电器适配工业长期高温带载工况，寿命稳定性优异。本方案可精准评估继电器高温老化寿命衰减特性，为工控继电器选型、品质管控与寿命预估提供数据支撑。

以上方案仅供参考，在实际试验过程中，可根据具体的试验需求、资源条件以及产品的特性进行适当调整与优化。

原创作者：广东皓天检测仪器有限公司