麦奇克纳米粒度及zeta电位仪的测量原理

　　纳米粒度测量——优良的动态光背散射技术

　　Zeta电位测量：MicrotracMRB以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代NANOTRACWAVEII微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分析技术相比，NANOTRACWAVEII采用优良的“Y"型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速，无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，*消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。

　　测量原理：

　　粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理

　　Zeta电位测量：膜电极设计与“Y"型探头形成微电场测量电泳迁移率

　　分子量测量：水力直径或德拜曲线

　　光学系统：

　　3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路

　　软件系统：

　　优良的FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出,Internet共享数据，MicrosoftAccess格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21CFRPART11安全要求，包括口令保护，电子签名和指定授权等。

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原创作者：威格尔仪表（江苏）有限公司