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当前位置: 阿仪网 > 物理仪器 > 表面物性测试 > 轮廓仪 > 深圳市科时达电子科技有限公司 > 产品展示 > 半导体检测仪器 > 布鲁克 Bruker 三维光学轮廓仪 ContourSP

布鲁克 Bruker 三维光学轮廓仪 ContourSP

价格:¥ 电议

品牌名称:$brandModel.Title型号: 原产地:欧洲 更新时间:2026/9/3 16:27:59

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公司网站:http://www.szkesda.com

详细内容

ContourSP 大面板计量系统融合了十余年封装光学表征业技术,使高密度互连 PCB(HDI-PCB)基板的测量效率比上一代白光干涉(WLI)仪器增加了一倍以上。该系统用于在制造过程中测量 PCB 面板的每一层,融入了一大批先进测量功能,大幅提升半导体封装行业的量产性能、便利性、可靠性和效率。具有计量功能的 ContourSP 采用简单易用的生产界面,通过用户自定义输入,实现快速、便捷的基准点对齐。


热门标签:布鲁克,Bruker,,三维光学轮廓仪,,ContourSP

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