产品展示
能量色散X荧光光谱仪 矿产矿石专用分析仪
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价格：￥电议
更新日期：2026/3/18 12:05:32
生 产 地：中国大陆
产品型号：EDX-9000B PLUS
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详细内容
Simply the Best
>xianjin制成Peltier电制冷FAST SDD硅漂移检测器
>真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限
>可同时分析40种元素
>可分析固体，液体，粉末和泥浆
>原装进口X光管管芯提供可靠zhuoyue样品激发性能
>无损检测，快速分析（1-2分钟出结果）
>无需化学试剂，无耗材，更环保，更高效
EDX9000B pluszhuoyue的分析性能，使其可以轻松完成对以下矿种的测试：
铁矿(磁铁矿、赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)
铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等)
铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等)
钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等)
钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)
钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等)
铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)
镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等)
铝土矿
其它矿类
产品特点
1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、高精度分析
2.可同时分析40种元素
3.采用多准直器多滤光片和扣背景专利技术
4. Peltier电制冷FAST SDD硅漂移检测器提供chuse的短期重复性和changqi再现性以及chuse的元素峰分辨率
5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统
6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作
7.专利薄膜滤光片技术，youxiao提高轻元素检出限
矿产元素检测专家EDX9000B Plus
>仪器参数
仪器外观尺寸:565mm*385mm*415mm |
超大样品腔：465mm*330mm*110mm |
半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm |
仪器重量: 48Kg |
元素分析范围：Na11-U92钠到铀 |
可分析含量范围：1ppm- 99.99% |
探测器：AmpTek超高分辨率电制冷Fast SDD硅漂移检测器 |
探测器分辨率：122 eV FWHM at 5.9 keV |
处理器类型：全数字化DP-5分析器 |
谱总通道数：4096道 |
X光管：高功率50瓦光管（原装进口管芯），冷却方式：硅脂冷却 |
光管窗口材料：铍窗 |
准直器：多达8种选择，最小0.2mm |
滤光片：7种滤光片的自由选择和切换 |
高压发生装置：原装美国高压，电压输出：0-50kV；输出电流：0-1mA |
高压参数：最小5kv可控调节，自带电压过载保护，输出精度：0.01% |
样品观察系统：500万像素高清CCD摄像头 |
电压：220ACV 50/60HZ |
环境温度：-10°C到35°C |
仪器配置
>标准配置 | >可选配置 |
纯Ag初始化标样 | 磨样机 |
真空泵 | 压片机 |
矿石专用样品杯 | 烘干箱 |
USB数据线 | ESI-900型XRF专用全自动熔样机 |
电源线 | 电子秤 |
测试薄膜 | 矿石标准物质 |
仪器出厂和标定报告 | 交流净化稳压电源 |
保修卡 | 150目筛子 |
quanxin设计的XTEST分析软件
软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。
*光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量
*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即基体效应，增强和吸收的校正。
*谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图
*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。
*可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。
*基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品
*提供多种数据访问接口，可兼容LIMS实验室管理系统
