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透射电镜原位MEMS低温电学测量系统
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价格：￥电议
更新日期：2026/9/10 12:21:23
生 产 地：中国大陆
产品型号：PicoFemto
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详细内容
PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统
PicoFemto透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用域。
透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标配STM-TEM样品杆内集成纳牛力传感器，实现高精度的力学及电学测量。
性能指标
PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统，是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块，实现低温电学测量或全温区测量功能。
PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统，是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块，实现低温电学测量或全温区测量功能。
性能指标
透射电子显微镜指标：
● 兼容指定型号电镜及靴；
● 单倾可选高倾角版本；
● 可选双倾版本，β角倾转±25°（同时受限于靴）；
● 测量电数可选。
电学测量指标：
● 包含一个电流电压测试单元；
● 电压输出大±200 V，小±100 nV；
● 电流测量大±1.5 A，小100 fA；
● 恒压或者恒流模式；
● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。
低温指标：
● 兼容MEMS加热及电学芯片；
● 全温区测量，温度范围：85 K- 380 K；
● 控温稳定性：优于±0.1 K；
● 温度连续可控。
