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Y09-QIII ST表面微粒子计数器 表面洁净分析仪
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更新日期:2026/11/8 7:50:24
生 产 地:中国大陆
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详细内容
Y09-QIII ST表面微粒子计数器 表面洁净分析仪
Y09-QIII ST型表面尘埃粒子计数器通过气流方式将附着在表面的颗粒重新进行悬浮,通过采集悬浮颗粒,使用基于激光光学传感器和光散射原理,获取悬浮粒子的散射光信号,进行计数显示。
主要用于半导体晶圆表面、光学元件、集成电路板等生产环境检测。为半导体制程工艺提供数据,提高良品率与可靠性。
主要技术参数 | |
尺寸 | 280mmx330mmx210mm(长X宽X高) |
质量 | 9KG |
输入电压 | DC21V(可充式内置锂离子电池) |
粒径通道 | 0.1 , 0.2, 0.3,0.5,1.0 ,5.0(µm) 0.3、0.5、1.0、3.0、5.0、10.0(um) |
采样周期 | 3s或者6s |
采样流量 | 28.3L/min 1/2”探头0.6CFM(17L/min) |
电池续航时间 | 5小时 |
允许最大采样浓度 | 10000颗/L(尘埃颗粒粒径不小于0.1um)采样空气中不得含有酸碱等腐蚀性气体 |
显示屏幕 | 7寸、Android工业电容触摸屏 |
数据存储 | 大于1000000组 |
数据接口 | wifi、以太网、USB、外置蓝牙打印机 |
管理权限 | 四级权限功能 |
光源寿命 | 半导体激光光源,寿命大于30000小时 |
自净时间 | ≤10min |
使用环境 | 温度:0-40℃;湿度:5-95%RH(无冷凝) |
计数效率 | 在0.1µm为50%(±20%)和在 大于0.2µm为100%(±10%) |











