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QIII表面微粒子计数器 表面洁净分析仪
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更新日期:2026/11/8 7:50:22
生 产 地:中国大陆
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详细内容
QIII表面微粒子计数器 表面洁净分析仪
表面尘埃粒子理化分析仪0.1-5um
美国PentagonTechnologiesQIII是一款用于测量和检测机表面微粒子(SPD)的精密仪器,它采用日前进的技术来实现量测的精确性和机台的稳定性。人的肉眼很难看清直径在100um以下的粒子,这些粒子会快速沉降,逃避常规的空气检测从而聚积在关键表面或产品上,从而减少产品的良率及降低产品的稳定性,QIIIST表面粒子检测器测量(0.1~5um)的粒子,对于生产环境的控制,提升产品的良率都起到了很大的作用,能够帮助企业更快捷的实现数据化管理。

优势
•快速测量表面颗粒
•可以帮忙控制机台产品上的颗粒物从而提高产量
•通过快速识别粒子源,减少故障排除时间
•可以监测物料,来料,以及Parts上的Particle
•减少PM的周期
•符合ISO 14644-9表面粒子操作规范
•减少粒子相关故障
样本数据:


技术描述:
• Particle测量范围: 0.1um - 5um
•粒径通道: 0.1, 0.2, 0.3, 1.0, 3.0, 5.0um
•激光源:镭射激光
•尺寸&重量: 30.5cm X 30.5cm X 22.9 cm, 13.2公斤
•电池:2块可热插拔锂电池
•显示: 7”英寸WVGA触摸屏
•数据显示:颗/平方厘米,颗/平方英寸,颗
•可智能分析测试数据平均值
•数据输出: USB,以太网, WiFi(选配)
•探头包含: ½ ”英寸直角探头.
•输入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz
•取样模式:静态取样和动态取样
• CE认证
•语言:英语,中文,日文,韩文
•美国制造

表面尘埃粒子理化分析仪0.3-10um
美国Pentagon Technologies QIII是一款用于测量和检测机台表面微粒子(SPD)的精密仪器,它采用目前进的技术来实现量测的精确性和机台的稳定性。人的肉眼很难看清直径在100um以下的粒子,这些粒子会快速沉降,逃避常规的空气检测从而聚积在关键表面或产品上,从而减少产品的良率及降低产品的稳定性,QIII SM表面粒子检测器测(0.3~10 um)的粒子,对于生产环境的控制,提升产品的良率都起到了很大的作用,能够帮助企业更快捷的实现数据化管理。

优势
•快速测量表面颗粒
•可以帮忙控制机台产品上的颗粒物从而提高产量
•通过快速识别粒子源,减少故障排除时间
•可以监测物料,来料,以及Parts上的Particle
•减少PM的周期
•符合ISO 14644-9表面粒子操作规范
•减少粒子相关故障
样本数据

技术描述:
• Particle测量范围: 0.3um -10um
•粒径通道: 0.3, 0.5, 1.0, 3.0, 5.0, 10.0um
•激光源:镭射激光
•尺寸&重量: 30.5cm X 26.7cmX 22.9cm, 8.4公斤
•电池:2块可热插拔锂电池
•显示: 7”英寸WVGA触摸屏
•数据显示:颗/平方厘米,颗/平方英寸,颗
•可智能分析测试数据平均值
•数据输出: USB,以太网, WiFi(选配)
•探头包含: ½”英寸直角探头.
•输入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz
•取样模式:静态取样和动态取样
• CE认证
•语言:英语,中文,日文,韩文
•美国制造

表面尘埃粒子理化分析仪5-125um
美国Pentagon Technologies QIII是一款用于测量和检测机台表面微粒子(SPD)的精密仪器,它采用目前进的技术来实现量测的精确性和机台的稳定性。人的肉眼很难看清直径在100um以下的粒子,这些粒子会快速沉降,逃避常规的空气检测从而聚积在关键表面或产品上,从而减少产品的良率及降低产品的稳定性,QIII SX表面粒子检测器测量(5~12 5 um)的粒子,对于生产环境的控制,提升产品的良率都起到了很大的作用,能够帮助企业更快捷的实现数据化管理。

优势:
•快速测量表面颗粒
•可以帮忙控制机台产品上的颗粒物从而提高产量
•通过快速识别粒子源,减少故障排除时间
•可以监测物料,来料,以及Parts上的Particle
•减少PM的周期
•符合ISO 14644-9表面粒子操作规范
•减少粒子相关故障
样本数据

• Particle测量范围: 5um - 125um
•粒径通道: 5, 10, 25, 50, 100, 125um
•激光源:镭射激光
•尺寸&重量: 3 0 .5 cm X 27cm X 22.8cm, 8.4公斤
•电池:2块可热插拔锂电池
•显示: 7”英寸WVGA触摸屏
•数据显示:颗/平方厘米,颗/平方英寸,颗
•可智能分析测试数据平均值
•数据输出: USB,以太网, WiFi(选配)
•探头包含: ½”英寸直角探头.
•输入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz
•取样模式:静态取样和动态取样
• CE认证
•语言:英语,中文,日文,韩文
•美国制造


可选配件
客户需求探头:可以按照客户需求定制合适的探头.
Part icle收集探头:可以将Particle收集起来
可选额外的电池.










