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QIII表面微粒子计数器 表面洁净分析仪

QIII表面微粒子计数器 表面洁净分析仪

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更新日期:2026/11/8 7:50:22

生 产 地:中国大陆

产品型号:

简单介绍:美国PentagonTechnologiesQIII是一款用于测量和检测机表面微粒子(SPD)的精密仪器,它采用日前进的技术来实现量测的精确性和机台的稳定性。

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相关标签:尘埃粒子计数器,悬浮粒子测试仪,空气粒子

详细内容

QIII表面微粒子计数器 表面洁净分析仪

表面尘埃粒子理化分析仪0.1-5um

美国PentagonTechnologiesQIII是一款用于测量和检测机表面微粒子(SPD)的精密仪器,它采用日前进的技术来实现量测的精确性和机台的稳定性。人的肉眼很难看清直径在100um以下的粒子,这些粒子会快速沉降,逃避常规的空气检测从而聚积在关键表面或产品上,从而减少产品的良率及降低产品的稳定性,QIIIST表面粒子检测器测量(0.1~5um)的粒子,对于生产环境的控制,提升产品的良率都起到了很大的作用,能够帮助企业更快捷的实现数据化管理。

https://qny.e-baixing.com/ybsNewShop/7bc2df03-ff22-4f43-b239-fa8d76fdc364_.jpg

优势

•快速测量表面颗粒

•可以帮忙控制机台产品上的颗粒物从而提高产量

•通过快速识别粒子源,减少故障排除时间

•可以监测物料,来料,以及Parts上的Particle

•减少PM的周期

•符合ISO 14644-9表面粒子操作规范

•减少粒子相关故障

样本数据:

https://qny.e-baixing.com/ybsNewShop/5e129f0f⁻⁷e9b-4d70-b77d-8f9b673dc682_.png

https://qny.e-baixing.com/ybsNewShop/382bb48a-f2fd-4a3c-9ca0-2067873810ca_.png

技术描述:

• Particle测量范围: 0.1um - 5um

•粒径通道: 0.1, 0.2, 0.3, 1.0, 3.0, 5.0um

•激光源:镭射激光

•尺寸&重量: 30.5cm X 30.5cm X 22.9 cm, 13.2公斤

•电池:2块可热插拔锂电池

•显示: 7”英寸WVGA触摸屏

•数据显示:颗/平方厘米,颗/平方英寸,颗

•可智能分析测试数据平均值

•数据输出: USB,以太网, WiFi(选配)

•探头包含: ½ ”英寸直角探头.

•输入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz

•取样模式:静态取样和动态取样

• CE认证

•语言:英语,中文,日文,韩文

•美国制造

https://qny.e-baixing.com/ybsNewShop/8cfb4fb4⁻⁷e71-428e-ba37-35547ed2ffa7_.png

表面尘埃粒子理化分析仪0.3-10um

美国Pentagon Technologies QIII是一款用于测量和检测机台表面微粒子(SPD)的精密仪器,它采用目前进的技术来实现量测的精确性和机台的稳定性。人的肉眼很难看清直径在100um以下的粒子,这些粒子会快速沉降,逃避常规的空气检测从而聚积在关键表面或产品上,从而减少产品的良率及降低产品的稳定性,QIII SM表面粒子检测器测(0.3~10 um)的粒子,对于生产环境的控制,提升产品的良率都起到了很大的作用,能够帮助企业更快捷的实现数据化管理。

https://qny.e-baixing.com/ybsNewShop/73f1a1e7-a49a-45dd-bbcc-64c155aaffb8_.jpg

优势

•快速测量表面颗粒

•可以帮忙控制机台产品上的颗粒物从而提高产量

•通过快速识别粒子源,减少故障排除时间

•可以监测物料,来料,以及Parts上的Particle

•减少PM的周期

•符合ISO 14644-9表面粒子操作规范

•减少粒子相关故障

样本数据

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技术描述:

• Particle测量范围: 0.3um -10um

•粒径通道: 0.3, 0.5, 1.0, 3.0, 5.0, 10.0um

•激光源:镭射激光

•尺寸&重量: 30.5cm X 26.7cmX 22.9cm, 8.4公斤

•电池:2块可热插拔锂电池

•显示: 7”英寸WVGA触摸屏

•数据显示:颗/平方厘米,颗/平方英寸,颗

•可智能分析测试数据平均值

•数据输出: USB,以太网, WiFi(选配)

•探头包含: ½”英寸直角探头.

•输入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz

•取样模式:静态取样和动态取样

• CE认证

•语言:英语,中文,日文,韩文

•美国制造

https://qny.e-baixing.com/ybsNewShop/cc1f2c34-6b0a-487e-abc1-358e61169c57_.png

表面尘埃粒子理化分析仪5-125um

美国Pentagon Technologies QIII是一款用于测量和检测机台表面微粒子(SPD)的精密仪器,它采用目前进的技术来实现量测的精确性和机台的稳定性。人的肉眼很难看清直径在100um以下的粒子,这些粒子会快速沉降,逃避常规的空气检测从而聚积在关键表面或产品上,从而减少产品的良率及降低产品的稳定性,QIII SX表面粒子检测器测量(5~12 5 um)的粒子,对于生产环境的控制,提升产品的良率都起到了很大的作用,能够帮助企业更快捷的实现数据化管理。

https://qny.e-baixing.com/ybsNewShop/6a3d4dbc-8d74-43c0-ad68-dff8186840b5_.jpg

优势:

•快速测量表面颗粒

•可以帮忙控制机台产品上的颗粒物从而提高产量

•通过快速识别粒子源,减少故障排除时间

•可以监测物料,来料,以及Parts上的Particle

•减少PM的周期

•符合ISO 14644-9表面粒子操作规范

•减少粒子相关故障

样本数据

https://qny.e-baixing.com/ybsNewShop/90cf3792-8d10-4b40-899d-d18c7d583c8f_.png

• Particle测量范围: 5um - 125um

•粒径通道: 5, 10, 25, 50, 100, 125um

•激光源:镭射激光

•尺寸&重量: 3 0 .5 cm X 27cm X 22.8cm, 8.4公斤

•电池:2块可热插拔锂电池

•显示: 7”英寸WVGA触摸屏

•数据显示:颗/平方厘米,颗/平方英寸,颗

•可智能分析测试数据平均值

•数据输出: USB,以太网, WiFi(选配)

•探头包含: ½”英寸直角探头.

•输入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz

•取样模式:静态取样和动态取样

• CE认证

•语言:英语,中文,日文,韩文

•美国制造

https://qny.e-baixing.com/ybsNewShop/cb55545b-557b-48a3-9cee-114e6d5fe192_.png

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可选配件

客户需求探头:可以按照客户需求定制合适的探头.

Part icle收集探头:可以将Particle收集起来

可选额外的电池.

QIII ST表面微粒子计数器.jpeg



尘埃粒子计数器,悬浮粒子测试仪,空气粒子

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