SWIFT XS SWIFT XS拉曼光谱仪

实现毫秒级别超快速、高分辨拉曼成像

全新 SWIFT XS 拉曼光谱仪

”

无惧以往拉曼成像过程中的共焦和灵敏度等挑战，全新SWIFT XS超快速成像拉曼光谱仪，实现毫秒级别超快速、高分辨拉曼成像，帮助用户专注获取成像的细节和化学信息。

01配备优化EMCCD，*呈现超快速成像技术优势

超快速

高达1400条光谱/s，可几秒内获取拉曼成像图，节省测样时间，快速分析大量样品。

高精度

单个成像图可达百万像素，不仅保证大面积成像，同时可获取超精细成像图。

高精度图像 (>260万张光谱)：

1.9cm×0.9cm药片成像图，局部放大后显示更细节的药物各成分分布图

高灵敏

即使对于弱信号、有荧光干扰的生物样品，同样能进行超快速成像。

细胞微管成像，扫描范围92 μm x 71 μm，

共40533条光谱，步长400nm，总成像时间：5 min 15s。

绿色和黄色分别对应蛋白质和DNA的分布。

高空间分辨率

HORIBA 拉曼系统的真共焦性能，确保利用佳空间分辨率分析小颗粒或者薄层样品，支持3D成像。

1μm聚集小球超快速拉曼成像结果。

左：共聚焦成像结果，获得非常清晰的小球轮廓；

右：非共焦成像结果，无法将单个小球分开

多种成像功能

支持偏振成像、超低波数成像、PL成像等多种成像功能，全面分析样品

3英寸MQW半导体晶片的超快速PL图像

显示发射波长（左图）和峰宽（右图）的分布情况,反映整个晶片的材料质量

共23,409条光谱，总采集时间7m:10s

2多种工作模式，满足样品多样化检测需求

标准模式

采用CCD慢扫操作，适用于信号弱样品或者单点曝光时间长于1s的样品测试

SWIFTXS-Ultra 模式

超快速成像，高达1400条光谱/s，适用于强信号样品

SWIFTXS-HC 模式

结合超快速成像和信号增强功能，增加弱信号样品的信噪比和图像对比度

示例1 标准模式和SWIFTXS-Ultra模式对比

背景：对同一样品区域（1-6层石墨烯）做成像分布图，数据点皆为28080条光谱

结果：

· 使用标准模式精细扫描，需要1个多小时

· 使用 SWIFTXS-Ultra 模式，在1-2分钟内完成成像的同时，依然获得很好的层数分布信息

示例2 标准模式和SWIFTXS-HC模式对比

背景：对聚合物小球做成像分布图，单点曝光时间为10ms/点

结果：SWIFTXS-HC模式可以更地区分样品和背景噪音，从而获取更清晰分布图

应用实例

BaSO4颗粒在HDPE聚合物基质中的3D成像图

· 每点曝光时间: 50 ms

· 数据点: 13,320

类胡萝卜素（绿色）在洋葱表皮细胞中的分布图

· 每点曝光时间: 3ms

· 数据点: 53000

赤铁矿在石英中的分布图

· 每点曝光时间: 3ms

· 数据点: 55695

刻蚀硅中的硅晶格分布，格子间距~1μm

· 每点曝光时间: 1.2m

· 数据点：40200

更多应用案例，请参考应用报告与文章：

典型应用

材料

· 二维材料层数分布

· 复合材料成分分布

· 材料表面修饰程度分布

· 掺杂/缺陷分析

生物/药物

· 生物组织成分分布

· 药物主成分和辅料分布

· 药物多晶型分布

· 药物在细胞中的分布

地质

· 矿物组成成分分布

· 包裹体分布

· 缺陷分析

· 珠宝/玉石组成分布

LED/半导体

· 圆晶片质量控制

· 应力分布

· 掺杂/缺陷分析

· PL成像

仪器性能

1. 继承与发展了XploRA的优异性能，包括全自动切换激光器、共聚焦、高光谱分辨和高空间分辨率、自动准直和校准、一键操作、与AFM联用等

2. 配备专为HORIBA优化的EMCCD：

· 读谱速度可达1613条光谱/s，完全满足超快速拉曼采集速度要求

· EM模式可对信号进行放大（高达1000倍），解决超快速成像中的积分时间短、拉曼信号弱的问题，提高成像灵敏度

· 与HOIRBA的高精度自动平台（步长小至10nm）进行高速同步，减少通讯时间，实现了毫秒级别的拉曼成像

· 在快速读谱时依然保持很低的读出噪音：<1e-

· 非常好的线性，保证测试峰位的准确性

3. 以图像为中心的拉曼成像软件，提供无以伦比的采集速度、实时成像分析、巨量数据流的快速分析、多变量分析、3D数据分析等。

地质包裹体的3D成像图，显示石英基底、水相CO2和气相CO2的分布