EXF-10B镀层测厚仪

　　满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。　　可以满足微小测试点的需求，zui小可达0.2mm。

　　高精度移动平台可精确定位测试点。　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。

　　高分辨率探头使分析结果更加精准。　　良好的射线屏蔽作用。

　　测试口高度敏感性传感器保护。

　　镀层测厚仪技术指标：

　　型号：EXF-10B

　　元素分析范围从铝(Al)到铀(U)。　　同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

　　分析检出限可达2ppm，zui薄可测试0.005μm。　　分析含量般为ppm到99.9% 。

　　镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)。　　任意多个可选择的分析和识别模型。

　　相互独立的基体效应校正模型。　　多变量非线性回收程序。

　　工作温度：15℃至30℃ 湿度：≤80%。

　　电源: 交流220V±5V。　　外型尺寸：670mm×470mm×370mm。

　　测量仓：520mm×370mm×105mm。　　重量：70kg

　　镀层测厚仪产品来源：

　　http://www.exf-rohs.com/SonList-1396065.html

　　http://www.chem17.com/st301665/product_25794169.html