发射扫描电镜

　　借助 MERLIN 系列场发射扫描电镜，即可在数秒内完成图像采集，观察清晰的原子级分辨率图像及进行完整的三维表面测量与分析。无论是配备性能出色GEMINI I 镜筒的入门型 MERLIN Compact 电镜，或是配备高分辨率 GEMINI II镜筒的高端型 MERLIN 电镜，MERLIN 系列均是未来稳固投资的zui佳之选：场发射扫描电镜协助您更好地应对未来工作中的各种挑战。15 个探测器端口和多个分析选择，为用户提供灵活性和扩展性。

　　MERLIN 系列易于扩展，以适应不断增长的需求

　　MERLIN 系列场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)可以采集高分辨图像，做成份分析，获取样品全部信息。样品室配有用于安装探测器和多种分析功能选项的 15 个端口，协助您完成从图像采集到完整的材料分析等一系列工作。根据应用需求进行功能扩展：MERLIN 系列具备全面的可升级性。

　　蔡司MERLIN系列场发射扫描电镜应用无极限

　　使用原子力显微镜功能选项，以原子级分辨率获取半导体样品的表面结构信息。通过增加 3View® 超

　　微切机实现大体积生物样本的三维重构。MERLIN系列的平台设计与智能化探测器技术，随时可借助即插即用扩展功能实现系统升级。开放式的系统软件编程接口，可快速地整合市场上的分析解决方案。

　　全面便捷的样品分析

　　MERLIN 系列的整套探测系统由不同探测器组成：in-lens 二次电子探测器用于高分辨率成像、能量选择背散射探测器(EsB)用于低电压成份衬度成像、in-lens duo 探测器用于二次电子和背散射电

　　子成像，或角度选择背散射探测器(AsB)用于晶体表面的结构分析。适合对各种材料进行单独的分析，或与探测器信号一起获取更丰富的图像信息。这些只需根据应用选配一个或多个探测器便可实现。

　　蔡司MERLIN 系列场发射扫描电镜产品来源：

　　http://www.chem17.com/st331930/product_27324637.html

　　http://www.xyichuang.com.cn/Products-27324637.html