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扫描探针显微镜SPM（原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM）

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Ekspla SFG 表面和频光谱分析系统

点击次数：314

价格：￥电议

更新日期：2026/4/13 21:08:15

生产地：

产品型号：SFG

简单介绍：用聚合物分子结构, 聚合物混合表面与深层接触面电化电池的固体/液体表面分子组织研究晶体表面催化反应的分子研究液体表面的分子定向研究，特别是水表面金属单层的自聚合现象研

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相关标签：Ekspla,SFG,表面和频光谱分析系统

详细内容

仪器简介：

SFG系统是进行表面和接触面研究的强有力而通用的工具

应用
聚合物分子结构, 聚合物混合表面与深层接触面
电化电池的固体/液体表面分子组织研究
晶体表面催化反应的分子研究
液体表面的分子定向研究，特别是水表面
金属单层的自聚合现象研究
... 还有您的个性化课题。

SFG 和频光谱测量系统
和频光谱测量系统 (SFG)是一个二阶非线性光学测量过程，用于在接触面产生分子振动光谱。
SFG,一种三束光波混频过程。通过将红外光，可见光在样品上（在时间和空间）上重合产生合频信号(wSF = wIR + wVIS)
由于其表面特异性，SFG信号只能来源于表面分子或原子. 其特点是表面分子的灵敏性和特异性
几乎在任何可以接触光的表面都可以应用SFG这一无破坏性的光学技术。测量可以在各种环境，包括真空和大压力条件下进行。

技术参数：

总体性能
工作波长：2.3–10μm(4300–1000cm-1)*
光谱分辨率：< 6 cm-1
检波灵敏度：~10 photons/shot
数据采集频率：10 Hz
*) 可选择使用 16 μm (625 cm-1)

可见光束（VIS beam）：
波长：532 nm
线宽：< 2 cm-1
脉冲能量：~ 1 mJ @532 nm
脉冲持续时间：20 – 30 ps
偏振
线性; 可选择;
偏振度>1:100

红外光束（IR beam）
调谐范围：2.3–10 μm(4300–1000 cm-1)*
线宽：< 6 cm-1
偏振：线性; 可选; 1:100 纯度
脉冲能量：200-20μJ

SFG光束：
波长范围：432 – 505 nm (VIS 光束=532 nm)