联系我们
联系人：贾跃飞
公司动态
Thetametrisis-膜厚测量、薄膜表征工具
点击次数：314 发布时间：2020/7/16 14:28:33
我公司——岱美仪器技术服务（上海）有限公司最新导入Thetametrisis（θmetrisis）产品
希腊thetametrisis基础型膜厚仪一款模块化，具有可扩展功能的系列膜厚测量工具。每套系统基本由四个模块构成（核心单元部分、应用订制部分、工作区类型和工作区配置）,并且系统还提供平台面板和各类丰富的配套应用附件。针对广泛范围的不同应用，如标准吸光度/透射率、反射测量、以及在不同温度和环境下（甚至是液体中）的薄膜表征的测定。ThetametrisisFR系列产品针对测量光学参数、薄膜厚度而开发，产品性能可靠，性能稳定性与可靠性超过绝大部分欧美品牌产品。尤其针对非晶硅（polysilicon）、非化学计量氮化硅、光学性能存在各项异性的复杂薄膜，性能优势显著。
可实现薄膜表征功能：测量光学参数、薄膜厚度
目前有以下产品系列：
FR-Thermal: 薄膜热处理过程中的实时表征工具
FR-Scanner: 自动化超高速jing准薄膜厚度测绘
FR-Mic: 微米级薄膜表征
FR-pOrtable:一款 USB 驱动的薄膜表征工具
ContactProbe-ST: 待测涂层现场测量厚度工具
FR-Education: 用于高校教学实验室的薄膜表征工具
FR-Liquid: 浸入液体中的涂层的现场实测和表征
FR-pRo: 按需搭建的薄膜特性表征工具
