机器视觉应用芯片外观缺陷检测

芯片外观缺陷检测的内容：

芯片外观缺陷主要包括三个方面的内容，机器视觉检测设备能够对这些问题进行检测。

1.芯片封装体缺陷检测，如刮痕、污迹、破损、未灌满、外溢等。

2.印刷缺陷检测，如错字、偏移、漏印、多印、模糊、倾斜、位移、断字、双层印、无字模等。

3.引脚缺陷检测，如引脚缺失、引脚破损、引脚间距、引脚宽度、引脚弯曲度、引脚跨距、引脚长度差异、引脚站立高、引脚共面度、引脚倾斜等

想了解更多的视觉检测方案及机器视觉产品（工业镜头、工业相机、视觉系统、图像采集卡和软件处理系统），欢迎拨打新西旺热线：，为您提供**的解决方案和产品报价。网址：www.cdxiwang.com

成都新西旺自动化科技有限公司，创立于2015年，于2018年9月获得国家高新技术企业证书，拥有实用新型利9项，软件著作权15项，发明利5项，外观利1项，年产值上亿元，相继于2017年在深圳、2018年在长沙成立办事处，主要为机器视觉检测提供业的解决方案，研发并提供高精度的自动检测、测量、识别、引导、定位系统等。

新西旺现已拥有自己的核心产品，高精度对位系统,AOI检测系统,读码-自动过账系统，BC系统（设备线管控系统Block Control System）,为富士康、京东方、捷普、蓝思科技、联得装备、莫仕等近几十家大型公司提供**的视觉解决方案，涉及的域包括面板、电子、汽车、包装、制药、半导体、机械制造等。

新西旺是美国康耐视公司（全球先的机器视觉检测产品提供商）中国境内铂金代理商，拥有该品牌全系列产品代理权。2017年度被评为"2017 South Region Best Contribution of ID"、2018年度被评为"2018 S1 Region Best Contribution of Vision"（广东，福建，四川，重庆，贵州）。

原创作者：成都新西旺自动化科技有限公司