CAMTEK 自动光学检验AOI设备Fan-out涉及哪些领域的行业应用？

CAMTEK 自动光学检验AOI设备Fan-out涉及哪些领域的行业应用？ http://www.app17.com/c149799/products/d11200198.html

CAMTEK 自动光学检验AOI设备Fan-out

Camtek先进的校准和诉讼机制结合用的检验和计量能力解决挑战性的Fan-out

的过程。
我们的系统支持表面检验能力和独特的计量信息死层之间结合位置对齐数据。
系统生成各种报告,增加产量和提高产量。

Camtek是一个 的开发商和制造商的半导体行业检验和计量设备。Camtek的系统检查和测量晶圆半导体器件的整个生产过程,包括道和封装,和组装的检测。Camtek系统检查晶片是 苛刻的半导体市场,包括先进互连包装、内存、CMOS图像传感器、微机电系统和射频,服务行业 的 IDMs OSATs和铸造厂。

性能：Camtek检验和计量系统可以在高通量检测有缺陷的ICs可靠,确保只有known-good-die交付给客户的 终产品。先进的包装技术的增长,已被证明是 有效的解决方案的高端产品,Camtek提供了各种检验和计量技术,可以根据客户的需求快速 地帮助他们满足 严格的要求没有缺陷的产品以及支持需求增长和投放市场的时间。

创新：Camtek创新使得它的技术导人检验和计量在半导体域的细分市场服务,通过交付解决方案,已成为许多应用的行业标准。 获胜的结合性能和灵活性与易操作和可靠性,为客户提供 佳的资本投资。

响应性：本地团队在每一个域是完全独立的,能够安装系统,添加新功能和提供所需的全方位的服务我们的客户。精益组织结构使快速反应引起行业需求和挑战。 Camtek软件,模块化的体系结构的系统可以解决独特的客户需求的高度定制,同时提供简单和具有成本效益的域升包安装设备。

功能

•RDL检查和计量
•检查多层晶片
•多种光学设置所有步骤和缺陷类型
•3 d高度和co-planarity测量
•死位置测量

技术

•Camtek独特的白光三角测量传感器
•先进的缺陷检测和计量处理引擎
•高分辨率三维共焦传感器
•光干涉测量技术对3 d

产品

Eagle-AP

Eagle-AP提供2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持高的性能和吞吐量水平。

Eagle-i

先进的2 d表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。

EagleT-AP

为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持高的性能和吞吐量水平。

EagleT-i

设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个 快的和 精确的2 d检查工具在市场上。

原创作者：北京亚科晨旭科技有限公司