CAMTEK 自动光学检验AOI设备 MEMS的应用详解

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 MEMS的应用详解 http://www.app17.com/c149799/products/d11200209.html

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 MEMS

Camtek检验和计量解决方案的微电子机械系统(MEMS)结合多种技术解决MEMS的2 d和3 d挑战的行业。

Camtek是一个 的开发商和制造商的半导体行业检验和计量设备。Camtek的系统检查和测量晶圆半导体器件的整个生产过程,包括道和封装,和组装的检测。Camtek系统检查晶片是 苛刻的半导体市场,包括先进互连包装、内存、CMOS图像传感器、微机电系统和射频,服务行业 的 IDMs OSATs和铸造厂。

性能：Camtek检验和计量系统可以在高通量检测有缺陷的ICs可靠,确保只有known-good-die交付给客户的 终产品。先进的包装技术的增长,已被证明是 有效的解决方案的高端产品,Camtek提供了各种检验和计量技术,可以根据客户的需求快速 地帮助他们满足 严格的要求没有缺陷的产品以及支持需求增长和投放市场的时间。

创新：Camtek创新使得它的技术导人检验和计量在半导体域的细分市场服务,通过交付解决方案,已成为许多应用的行业标准。 获胜的结合性能和灵活性与易操作和可靠性,为客户提供 佳的资本投资。

响应性：本地团队在每一个域是完全独立的,能够安装系统,添加新功能和提供所需的全方位的服务我们的客户。精益组织结构使快速反应引起行业需求和挑战。 Camtek软件,模块化的体系结构的系统可以解决独特的客户需求的高度定制,同时提供简单和具有成本效益的域升包安装设备。

功能

•整片2 d检查和计量
•表面相关缺陷检查
•各种处理解决方案(薄和泰科晶圆和更多)
•高分辨率的2 d和3 d测量
•多个照明配置各种功能的检查
•灵活的检测环境定制的应用程序

技术

•先进的缺陷检测和计量处理引擎
•高分辨率三维共焦传感器
•剪辑

产品

进的2 d表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。

EagleT-i

设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个 快的和 精确的2 d检查工具在市场上。

原创作者：北京亚科晨旭科技有限公司