您的位置:阿仪网 > 北京国嘉恒业科学仪器有限公司 > 产品展示 > 光栅光谱仪(单色仪) > OEM定制化光谱仪VS7000+(提供给光谱分析仪器制造商)VS7000+

联系我们

联系人:sales

点击查看联系方式

产品展示

OEM定制化光谱仪VS7000+(提供给光谱分析仪器制造商)

OEM定制化光谱仪VS7000+(提供给光谱分析仪器制造商)

点击次数:226

价格:¥电议

更新日期:2026/4/13 21:03:32

生 产 地:

产品型号:VS7000+

简单介绍: VS7000+是一款集定制化、高性能、小型化于一身,面向光谱分析仪器制造商的OEM光谱仪产品。搭配不同的光栅、滤光片和探测器,可以满足不同应用的性能需求,实现仪器产品性能的最优化和差异化。

商家名片
s***s
联系我时,请说明是阿仪网看到的,谢谢!
  • 电话:
  • 手机: 13******936
  • 微信:
  • 交换名片后展示联系方式 → →
相关标签:

详细内容

VS7000+是一款集定制化、高性能、小型化于一身,面向光谱分析仪器制造商的OEM光谱仪产品。搭配不同的光栅、滤光片和探测器,可以满足不同应用的性能需求,实现仪器产品性能的最优化和差异化。
VS7000+标配HORIBA Jobin Yvon专利的4型消像差平像场光栅、高量子效率背照射CCD。峰值量子效率高于75%、动态范围最高达7000:1、光谱范围覆盖紫外、可见、近红外,能满足大多数高端光学光谱仪器的使用要求,特别适合用低感光下的精密光谱分析应用。另有多种定制化方案可满足更多应用需求。
HORIBA Jobin Yvon 真正OEM定制化解决方案,兼顾性能最优化和差异化,适合仪器开发和量产。

应用领域
? 生化医疗
? 荧光光谱
? 液相色谱
? 透射反射光谱
? LED光源检测
? 水质气体分析
? 便携式拉曼开发
? 食品近红外光谱分析

技术特点
? 高光通量(f/2.8)
? 超低杂散光
? 主流光谱范围:紫外-可见(200nm~860nm)、可见(380nm~750nm)、紫外-可见(200nm~1050nm)
? 高灵敏度,适合荧光、发射、吸收和反射等光谱应用
? 采用高性能背照射CCD探测器,优于市场上正照射和低成本背照射CCD

特征描述
覆盖常用的紫外-可见光谱范围拥有完美对称峰型的小型光栅光谱仪
读出速度快最快达4.5ms
先进的电路技术低噪音、高线性度(原始数据)和线性校正(板载)
背照射线性CCDQE=63%(250nm处);70%(650nm处);55%(850nm处)
高性噪比在非制冷CCD光谱仪中拥有最高的性噪比
USB2.0接口与电脑连接的标准USB接口,保证了100%数据完整性
高阶滤光片消除二级衍射
数据采集软件/LabViewTMCVls/DLLs可 用可方便地将VS⁻⁷000+集成到您的系统中
单片光栅光路设计采用单片消像差4型凹面平像场光栅,拥有完美的分光纯度
无运动部件或快门使OEM集成具备了极佳的可靠性


HORIBA Jobin Yvon专利4型消像差平像场光栅,完美匹配阵列探测器。

单片光栅光路设计,实现高光通量、低杂散光、高稳定性。


采用高性能背照射CCD或CMOS探测器,高量子效率、高采集速率。


S10420理论量子效率曲线

参数规格
对光谱分析应用,VS⁻⁷000+采用改进型的VS70光学设计对UV-VIS进行优化

光谱范围紫外-可见(200nm~860nm):采用250nm处优化的光栅,内置高阶滤光片
可见(380nm~750nm):采用可见光谱闪耀的光栅,内置长通滤光片
紫外-可见-近红外(200nm~1050nm):采用紫外可见双闪耀光栅,内置高阶滤光片
数值孔径f/2.8
杂散光抑制
典型(最大)
0.04%(0.08%),配置300µm高紫外-可见型CCD
(采用510nm宽带滤光片,75µm宽狭缝进行测量)
>2.4 AU线性范围(5%误差),采用氘灯和10mm比色皿,测量咖啡因在273nm处的吸收
CCD探测器典型量子效率高性能背照射CCD,紫外波段的量子效率高达65%,近红外消etaloning效应
探测器高度和光纤参数CCD感光面高300µm(另有1mm可选)
适配600µm芯径,1.5m长的光纤(对1mm高CCD推荐800µm~1000µm芯径光纤)
热电稳定性暗电流和CCD模式噪声需扣除,操作者需关闭光源或在光路上安装快门
探测器量子效率会随温度变化有微小变化
光谱分辨率
像素分辨率
狭缝(出厂配置)
紫外-可见:在75µm狭缝、2048像元下,分辨率为2.7nm;
0.33nm/像元(配置300µm高CCD)
可选狭缝宽度:12、25、37、50、62、75、100、125、150、200µm(如需其他狭缝规格,请与我们联系)
改进的CCD满阱容量
原始非线性度
工厂校正的非线性度
>250ke-(灵敏模式) >450ke-(高满阱模式)
<1%(灵敏模式) <3%(高满阱模式)
<0.4%(灵敏模式) <0.8%(高满阱模式)
读出速度8.6ms(500kHz 模式),116spectra/s(多道采集模式,零曝光时间)
最快:4.5ms(超快模式),223spectra/s(多道采集模式,零曝光时间)
典型暗电流2.8counts/ms (20℃),典型偏移 = 1000 counts
典型读出噪声在灵敏模式下35e-(最大45e-) 在高满阱模式下75e-(最大90e-)
A/D转换16bit,500kHz
典型动态范围7000:1(灵敏模式),6000:1(高满阱模式)
典型信噪比500:1(灵敏模式)至700:1(高满阱模式),在散粒噪声受限的条件下
增益选择4e-/count 和8e-/count

注:参数,外形和光谱范围如有更改,恕不另行通知。

采集软件
包括(LabVIEWTM 2011版)

? 为用户编程提供VIs和上层代码
? 可访问CCD原始线性数据和校正线性数据,出厂前对每个CCD芯片做校正
? CCD设置和暗噪声扣除
? 板载(on-board)或者软件平均
? 吸收和透射计算
? 像素、波长和波数三种标度选择
? 板载(on-board)光谱校准
? 线性校正开关
? Boxcar平均
? 数据保存支持Excel或Txt格式
注:运行自带软件无需LabView许可证,编辑代码需要2011版LabView许可证,HORIBA Jobin Yvon不提供代码编写的技术支持。


采购记录

优质供应

相关文章

  • 友情链接
  • 热词推荐
在线咨询5分钟应答

提交