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X射线镀层测厚仪的优点
点击次数：1639 发布时间：2021/5/21 10:40:48
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X射线镀层测厚仪的优点
X射线镀层测厚仪原理
利用初X 射线激发待测物质中的原子，产生次X 射线也就是X荧光而进行物质成分分析的方法。 当原子受到X 原X 射线的激发原子内层电子会出现空穴，原有的平衡状态被破坏，较外层的电子会跃迁到内层电子空位，内层电子和外层电子会有能差，多余的能量会以X射线的形式释放出来也就是我们说的次X 射线光也叫X 荧光。而不同的元素它们的能量都是不一样的，通过识别它们的能量就可以判断是什么元素，这就是定性分析的基础。
X射线镀层测厚仪主要由激发源、分光装置、探测器、数据处理，输出等单元组成。激发源的作用就是产生初X 射线。它由高压电源和X 光管组成。探测器的作用是将X 射线能量光信号转化为电信号，常用的有正比计数管、半导体探测器等。数据处理由放大器、多道脉冲分析器、组成。通过标样得到已知含量的强度来对未知含量的样品进行对比分析，而得到被测元素的含量或厚度。
X射线镀层测厚仪的优点
X射线镀层测厚仪的优点
1、镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10~3分钟，分析精度高。
X射线镀层测厚仪是光物理测量，其对测试样品不会产生任何的物理、化学变化，因此，其属于无损测量。同时对测试的样品不需要任何处理，分析速度更加快捷。
2、可测试超薄镀层，如：在测试镀金产品时，低可测试0.01米的镀层厚度，这是其他测厚设备无法达到的。
X射线镀层测厚仪通过射线的方式来检测镀层的厚度，因此，其对样品的表面物质测试为灵敏，因此，其非常适合测试超薄镀层，也是目超薄镀层常用的测量方法。
3、可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。
X射线具有一定的穿透能力，因此，在测试镀层时，它可以穿透多层镀层，通过每层镀层产生的特征X射线计算其厚度，并可分析其镀层的组成。
4、可分析合金镀层厚度和成分比,这是其他测厚设备不能做到的。
5、对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况并可以对样品的复杂面进行测量。
由于X荧光的无损分析方法，同时仪器高度的自动化控制技术，保证测试中可以进行连续多点测量，不但提高测试效率，同时可以分析测试样的厚度分布情况。
6、对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别，即，每层样品元素有明显的差别。
由于X射线镀层测厚仪是通过特征X射线，对被测样品进行厚度分析的，因此每层镀层的材料应有明显的区别。
7、不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过30微米。根据各种元素的能量不同，测量范围都不相同,如：
原子序25~40，约0.01~30um原子序41~51，约0.02~70um,但是陶瓷上的涂层因为密度相对普通金属电镀工艺,密度会小,所以可以测试更厚,比如未烧结的MoMn涂层可以测试150微米以上.
8、可以对小样品进行测试，例如：螺丝、电路板焊盘、接插件的插针等。可以将X射线照射在样品的光斑调到很小的地步（小可以达到微米，因此，超小样品的测试非常容易。
9、属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同的镀层标样，虽然有FP法的测试软件，但在精准测试中，一定需要标准样品进行校对，因此，企业应用中采用标样校对的方法是常见的。
10、针对不同的镀层测试对象，可选择不同结构的X荧光分析仪器。例如：上照射和下照射的设备；探测器分为正比计数器和半导体探测器的等，他们都有各自的优缺点。
仪器推荐
仪器推荐
Thick800A是天瑞集多年的经验，门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
应用域
测量标准
1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美国标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
应用优势
1 快速：一般测量一个样品只需要30S～300S，样品可不处理或进行简单处理；
2 无损：物理测量，不改变样品性质；
3 准确：对样品可以精确分析；
4 直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析速度快；
5 环保：检测过程中不产生任何废气、废水。
仪器配置
1 硬件：主机壹台，含下列主要部件：
(1) X光管 (2) 半导体探测器
(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台
(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统
(7) 上照、开放式样品腔 (8）双激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3 计算机、打印机各一台
计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
5 标准附件
准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中）
参数规格
1 分析元素范围：S-U
2 同时可分析多达5层以上镀层
3 分析厚度检出限高达0.005μm
4 多次测量重复性高可达0.01μm
5 定位精度：0.1mm
6 测量时间：30s-300s
7 计数率：1300-8000cps
8 Z轴升降范围：0-140mm
9 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
性能特点
1 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
3 高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
4 采用高度定位激光，可自动定位测试高度；
5 定位激光精确定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
6 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
7 高分辨率探头使分析结果更加精准；
8 良好的射线屏蔽作用；
9 测试口高度敏感性传感器保护；
安装要求：
1 环境温度要求：15℃-30℃
2 环境相对湿度：<70%
3 工作电源：交流220±5V
4 周围不能有强电磁干扰。
公司介绍
公司介绍
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司
