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台式镀层测厚仪thick800A
点击次数：1636 发布时间：2021/2/2 10:36:59
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台式镀层测厚仪thick800A
台式镀层测厚仪thick800A是款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器，其探测器分辨率低为139eV，处于国际先进水平；产品采用上照式设计，多重防辐射保护装置以及X射线发生器，使辐射剂量符合国际规定；样品观察系统采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的用测厚分析软件，各项指标均符合相关技术要求，技术达国际先进水平。
台式镀层测厚仪thick800A分析范围从硫(S)到铀(U)；
2.2次可同时分析多24个元素，5层镀层；
2.3分析检出限可达2 PPm，薄可测试0.005um；
2.4 分析含量般为2 PPm到99.9%；
2.5镀层厚度般为在50um以内（每种材料有所不同）；
2.6任意多个可选择的分析和识别模型；
2.7相互独立的基体效应校正模型；
2.8多变量非线性回收程序；
2.9多次测量重复性可达0.1%；
2.10长期工作稳定性可达0.1%；
2.11温度适应范围为15℃至30℃；
2.12电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源）。
3 仪器特点:
3.1 台式镀层测厚仪thick800A是门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求，特设计的款产品；
3.2 采用上照式结构，以满足不规则表面样品的测试要求；
3.3 采用美国新型的探测器，高分辨率探头使分析结果更加精准；
3.4 采用高度定位激光，可自动定位测试高度，以满足不同规格样品的镀层测试。同时定位激光精确定位光斑，以确保测试点与光斑对齐；
3.5 高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
3.6 内置φ0.2mm的小孔准直器，可以满足微小测试点的镀层测试；
3.7 多重防辐射泄露设计，具有良好的射线屏蔽作用；
3.8 内置高精度移动平台，通过测试软件可视化操作：鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
3.9 采用网口传输数据，数据传输稳定且快。
4 仪器配置
4.1 电制冷半导体探测器；
4.2 X光管；
4.3 高低压电源；
4.4 开放式样品腔；
4.5 双激光定位装置；
4.6 高度传感器；
4.7 保护传感器；
4.8 铅玻璃屏蔽罩；
4.9 信号检测电子电路；
4.10 台式镀层测厚仪thick800A精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
5 安装要求
5.1 环境温度要求：15℃-30℃；
5.2 环境相对湿度：<70%；
5.3 工作电源：交流220±5V；
5.4 周围不能有强电磁干扰。
6 设备安装、调试及操作培训
6.1 在约定的时间，安排技术工程师到达用户指定地点，进行设备安装、调试；
6.2 培训包括技术培训与现场操作培训，主要内容为检测方法及原理，常见故障处理、日常运维和操作规程；
6.3 设备的安装、调试、培训均为免费；
7 售后服务
7.1 软件免费升：如有软件升，供方将免费提供软件升，不再收取升费用；；
7.2 仪器设备自验收合格之日起保修年。
7.3 技术服务的响应期限：提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司
