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xrf镀层测厚仪thick800A
点击次数：2050 发布时间：2020/4/27 15:37:34
商家名片
刘**
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X荧光分析仪原理
xrf镀层测厚仪thick800A原理
(1) X射线荧光法（XRF）：能量X荧光光谱侧厚法(质量膜厚)
测试原理：xrf镀层测厚仪thick800A是通过X射线激发各种物质（如Mo、Ag、Mn）的特征X射线，然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性，测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片（或者对比样）对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加，厚度值也增加，但不是绝对直线关系；通过标样和软件及算法（算法有FP法和经验系数法）得到一个最接近实际对应关系的曲线
.
天瑞xrf镀层测厚仪thick800A特点
样品处理方法简单或无前处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备可靠、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务保证
仪器特点:
xrf镀层测厚仪thick800A是专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求，特设计的一款产品；
采用上照式结构，以满足不规则表面样品的测试要求；
采用美国最新型的Si-pin探测器，高分辨率探头使分析结果更加精准；
xrf镀层测厚仪thick800A采用高度定位激光，可自动定位测试高度，以满足不同规格样品的镀层测试。同时定位激光精确定位光斑，以确保测试点与光斑对齐；
高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
内置φ0.1mm的小孔准直器，可以满足微小测试点的镀层测试；
多重防辐射泄露设计，具有良好的射线屏蔽作用；
内置高精度移动平台，通过测试软件可视化操作：鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
xrf镀层测厚仪thick800A采用网口传输数据，数据传输稳定且快。
仪器配置
Si-pin电制冷半导体探测器；
X光管；
高低压电源；
开放式样品腔；
双激光定位装置；
高度传感器；
保护传感器；
铅玻璃屏蔽罩；
信号检测电子电路；
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
公司介绍
公司介绍
天瑞公司20大优势】- 2大人才优势永保企业活力具有雄厚实力的研发团队——有数名“三清”博士人才；
（三清——指学士、硕士、博士均在清华大学取得）唯一授权具有“博士后工作站”；保修期最长——整机保修3年，X光管保修5年，可安装两套软件！（第一年全免；之后的保修期内免费更换零部件，服务费、差旅费等费用由客户承担）；
售后服务体系最完善，售后服务人员素质高；
交货周期最短；
拥有完善的“7S”管理；（规范内部管理）
全球占有率最高，X荧光光谱仪销售量稳居全球第一
品种全球最多， X荧光光谱仪品种第一；
全球知名度最高；
唯一拥有自己的大厦、自己的工业园；
全球最大的X荧光制造商；
政府机构、检测机构中使用天瑞品牌的最多 。安装了SNE（全球申请专利）：检出限提高4—5倍；精度高出4—5倍；在行业中具有超高性价比；
移动平台精确度高；
拥有X荧光xrf镀层测厚仪thick800A的所有核心技术 ；
探测器能达到全球第一的分辨率——127 eV ；
唯一的具有“分析测试实验室” ；
拥有发明专利等知识产权共43项 ；
仪器外型美观时尚，深受全球用户追捧 。
探测器
全球最好的探测仪，
与火星车所用探测器相同信噪比增强器（专利产品） 信号处理能力比普通仪器提高25倍
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司
