CAF测试

　　日本J-RAS离子迁移试验装置CAF测试是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ～1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

　　详细介绍

　　日本J-RAS离子迁移测试装置

　　追求高性能、高信赖性、高便利性的系统构成。

　　ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统，并且重要的试验数据被保存到CF存储卡。

　　作为系统构成我们准备了40CH/100CH型，可以根据您的预算、设置空间来进行选择。

　　高机能

　　*用PC设定试验条件之后，就可以不使用PC来继续进行试验。

　　*使用ECM-100主机就可对HAST/试验槽进行自动控制，试验状况可以用ECM-100进行变更/监视。

　　*HAST/试验槽的开门功能等的联动装置功能也是标准装备的

　　*没有通信机能的HAST/试验槽，也可以通过模拟输入来监视湿度

　　CAF测试产品链接：

　　http://www.sz-skyan.com/Products-13799230.html

　　https://www.ybzhan.cn/st133409/product_13799230.html

原创作者：扬州海沃电气科技发展有限公司