CAF测试

　　日本J-RAS离子迁移试验装置CAF测试是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ～1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

　　详细介绍

　　日本J-RAS离子迁移测试装置

　　追求高性能、高信赖性、高便利性的系统构成。

　　ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统，并且重要的试验数据被保存到CF存储卡。

　　作为系统构成我们准备了40CH/100CH型，可以根据您的预算、设置空间来进行选择。

　　高机能

　　*用PC设定试验条件之后，就可以不使用PC来继续进行试验。

　　*使用ECM-100主机就可对HAST/试验槽进行自动控制，试验状况可以用ECM-100进行变更/监视。

　　*HAST/试验槽的开门功能等的联动装置功能也是标准装备的

　　*没有通信机能的HAST/试验槽，也可以通过模拟输入来监视湿度

　　简单/便利

　　△采用高性能驱动计测，测试时焊接工序大幅减少。

　　△软件设计简单明了，能够非常直观得操作。

　　△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。

　　△测试中，设备可以单独运行，电脑电源切断也不受影响。

　　高性能&高机能

　　△因为每个通道都单独配有电压/计测电路，可以做到16ms的计测间隔。

　　→迁移现象的检测能力更高，对产品品质把控更。

　　△一台电脑可以增设400通道。

　　△每个通道可以设定不同的电压。

　　可靠性更高&操作更简洁

　　△具有自身诊断机能，把异常计测防范于未然。

　　△配有CF卡，以防设备故障数据丢失。

　　△每个单元独立，其中一个单元损坏，可以单独拆卸维修，而不影响其他通道使用。

　　△标准配置也可以接入1~300V的电压范围。

　　CAF测试产品链接：

　　http://www.sz-skyan.com/Products-13799230.html

　　https://www.ybzhan.cn/st133409/product_13799230.html

原创作者：上海徐吉电气有限公司