超电容全参数测试仪

N8100可测量超电容容量参数，含充电容量和放电容量。测试方法为：对被测超电容以恒定电流进行充（放）电，在充（放）电过程中记录时间和电压参数，通过计算充（放）电过程中电压对时间的斜率计算容量。用户可根据IEC等各种测量标准自行选择电压、时间参数进行计算。
等效串联内阻(DCIR)测试
N8100主要用于生产、品质检测等快速测试场合，因此采用动态电流法（10ms脉冲法）来测试内阻，可满足绝大部分客户测试需求。
动态电流法直流等效内阻计算公式：

■ 寿命测试
N8100可通过重复充放电循环测试，测量超电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线，用户可获取超电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。

■ 四线制测量功能
超电容测试过程中需要输出较大电流，测试线将会引入较大电压降（线损），影响测量精度。N8100全系列型号均采用四线制接线方式，直接采集超电容两端电压而避免因测试线线损带来的电压误差，从而确保测量精度。

■ 测试夹(治)具
考虑到不同规模的测试应用场景，NGI提供两种测试夹（治）具供用户选择：开尔文夹、12通道用治具。两种测试夹（治）具均为四线制接法。


■ 测试软件
(1) N8100测试软件采用平台化设计，用户可根据工艺需求自行定制测试流程。
(2) 类Office界面风格，各通道独立显示，支持电压电流波形绘制，可以表格形式显示结果等诸多元素，使得这款业软件在具备强大测试功能同时，兼具美观易用优点。
(3) 设计有功率限制电路，反应时间短，可有效保护负载不会因为过功率而损坏。
(4) 采用全屏蔽技术，对恶劣测试环境具有广泛适应性，有效提高了负载抗干扰能力。

产品应用
■ 超电容器研发、生产、品质检测
■ 超电容材料研究
■ 超电容相关其它应用域

产品尺寸