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反射膜厚仪MProbe NIR
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更新日期：2026/9/9 16:20:44
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产品型号：
商家名片
黎**
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详细内容
产品概述
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。
测量范围: 100 nm -200um
波长范围: 900 nm -2500 nm
适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
测量指标：薄膜厚度，光学常数
界面友好强大: 一键式测量和分析。
实用的工具：曲线拟合和灵敏度分析，背景和变形校正，连接层和材料，多样品测量，动态测量和产线批量处理。
,,反射膜厚仪MProbe,NIR
