XRF光谱分析仪

EDX4500HX荧光谱仪利用XRF检测原理快速、准确、无损地分析各种要素成分。

该仪器的主要特点是利用智能真空系统，对Si、P、S、Al、Mg等轻量元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可以正确分析高含量的Cr、Ni、Mo等重点要素，在冶炼过程控制中测试时间短，大大提高了测试效率和工作效率。

另外，合金分析、全要素分析、有害要素检测的应用也非常广泛。

性能特征。

高效超薄窗x光管，指标达到国际先进水平。

数字多技术使测试更快，计算率达到10000CPS，精度更高。在合金检查中效果更好。

SDD硅漂移探测器具有良好的能量线性、能量分辨率和可谱特性，高峰背比。

低能量x射线刺激待测量要素，对Si、P等轻要素刺激效果好。

XRF光谱分析仪智能抽真空系统，屏蔽空气影响，大大扩大测试范围。

自动稳定装置保证了仪器工作的一致性。

高信噪比的电子线路单元。

不同样品自动切换准直器和过滤器，避免手动操作带来的麻烦。

分析技术分解分析峰值，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。

多参数线性回归方法明显抑制了元素之间的吸收、增强效果。

内置高清摄像头。

液晶面板显示器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然。

技术参数。

产品型号:EDX4500H。

产品名称:x荧光光谱仪。

测量要素范围:钠(Na)至铀(u)

要素含量分析范围:ppm-99.99%(因要素而异，分析范围不同)

同时分析要素:一次可测量几十种要素。

测量时间:30-200秒。

探测器的能量分辨率为145±5eV。

管压:5KV-50KV。

管流:50μA-1000μA。

测量对象状态:粉末、固体、液体。

输入电压:AC110V/220V。

环境温度:15℃-30℃。

环境湿度:35%-70%

样品腔体积:320毫米×100毫米。

外形尺寸:660毫米×510毫米×350毫米。

重量:65公斤。

标准配置。

高效超薄窗x光管。

SDD硅漂移探测器。

数字多种技术。

光路强化系统。

高信噪比电子线路单元。

内置高清摄像头。

自动切换型准直器和过滤器。

自动稳定装置。

三重安全保护模式。

可靠的整体钢结构。

90毫米×70毫米状态显示液晶面板。

真空泵。

应用领域。

XRF光谱分析仪广泛应用于合金检查、全要素分析、有害要素检查(RoHS、卤素)