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化镍测厚仪

点击次数:2026 发布时间:2024/3/26 11:32:24
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江苏天瑞仪器股份有限公司从事光谱(X荧光测厚仪、矿石分析仪、合金分析仪、ROHS分析仪,便携式光谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪ICP)、色谱、质谱(气相色谱质谱联用仪GCMS、液相色谱质谱联用仪LCMS、电感耦合等离子体质谱仪ICPMS)等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。 为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、等众多行业提供完善的行业整体解决方案。
化镍测厚仪:Thick800A
测定步骤:
步:新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线
第二步:确定测试时间:40S
第三步:测试其重复性得出相对标准偏差
镀层厚度荧光检测仪
技术指标
化镍测厚仪型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
化镍测厚仪镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
镀层厚度荧光检测仪
化镍测厚仪镀层样品测试注意事项
先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序,天瑞XRF荧光测厚仪多可以测5层金属镀层厚度 。
化镍测厚仪通过对镀层基材的测定,确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质,比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。
对于底材成分不是纯元素的,并且同标准片底材元素含量不一致的,则需要进行基材修正,选用样品所相似的底材进行曲线标定 。
镀层厚度荧光检测仪
标准配置
化镍测厚仪开放式样品腔。
二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
化镍测厚仪。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
镀层厚度荧光检测仪
天瑞仪器是分析仪器行业上市公司,公司包括研发部、技术部、生产部、国内业务部及海外市场部、品管部、计划部、采购部、仓管部、人力资源部、财务部、及董秘处和行政部等部门,且公司规模日益壮大。天瑞仪器不断探究分析域的**。为客户提供电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、等众多行业提供较为完善的行业整体解决方案


原创作者:江苏天瑞仪器股份有限公司.

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