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X荧光测厚仪器

点击次数：2114 发布时间：2023/4/15 11:22:39

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王**

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产品说明、技术参数及配置

EDX 2000AX荧光测厚仪器是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光膜厚测量技术，门研发的一款上照式膜厚测试仪。相比于传统的镀层测厚设备，不仅在常规的传统电镀上表现，*能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行*对焦**分析。

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。

天瑞仪器不断探究分析域的端。为客户提供产品和满意的服务，同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供完善的行业整体解决方案。

ICP 3100全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪用于测定各种物质（可溶解于盐酸、硝酸、氢氟酸等）中的常量、微量、痕量元素的含量。仪器具有抗干扰性强、自动化程度高、操作简便、稳定可靠、测试范围广、分析速度快、检出限低等特点。广泛应用于地质、冶金、化工、环保、临床医药、石油制品、半导体、食品、生物样品、刑事科学、农业研究等各个域。