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ROHS检测仪的分析步骤
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分析事理 ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析事理也就是X射线荧光光谱仪的分析事理。X射线荧光光谱仪常日可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF),波长色散光谱仪紧张部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等,而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和干系电子与控制部件,相对大略。 波长色散X射线荧光光谱仪利用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,颠末进程测定角度,即可获得待测元素的谱线波长: λ=2dsinaθ(n=1,2,3…) 式中,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以或许或许或许或许测得分析谱线的衍射角,利用上式可以或许或许或许或许打算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特征信息。 能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,颠末进程测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量: Q=kE 式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的相应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故颠末进程测定电荷量可获得待测元素的特征信息。 待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源紧张有射线光管和同位素激发源等。 为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技能,并对获得的强度结束干系的谱分析和数据处理。
原创作者:深圳市深赛科学仪器有限公司



