泰勒原厂销售Surtronic S-116小型粗糙度仪

泰勒原厂销售Surtronic S-116小型粗糙度仪

Surtronic S116泰勒粗糙度仪是Surtronic S100 系列的标准产品，坚固耐用，性能优越的表面粗糙度测量仪，因为体型小巧便于重量轻，所以方便携带。多样化的系统和应用相关的配件，满足您的特殊需求，大容量锂聚合物电池， 一次充电后可进行至少2000次测量，充满电后待机能力长达5000个小时。

Surtronic S-116小型粗糙度仪特点介绍：
一个50mm长的测针升降装置和直角附件
360度任意旋转，任何方向任何高度测量
轻触快捷键即可进行所有关键设置。
迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。
A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。
防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。
测针还能够反方向底部测量。

泰勒原厂销售Surtronic S-116小型粗糙度仪技术规格：
测量范围：200 um 100 um 10 um
分辨率： 100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm
重复精度 (Ra) ：1%测试值+底噪
传感器原：电感
测量力：150-300mg
测针针尖半径：标配5 µm (200 µin) 可选2µm(80µin)或10µm(400µin)
测试参数：
三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二个滤波器：2CR、Gaussian
评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选
zui大行程：17.5mm
执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc