精微高博参加第八届全国颗粒测试学术会议

精微高博参加第八届全国颗粒测试学术会议

 

     精微高博技术总监钟教授做了题为“坚持自主创新，在超细粉体表面特性测试领域赶超世界先进水平”学术报告，具体介绍了推动国产仪器发展的动力，重点阐述了精微高博在各个方面的自主创新技术，从理论研究到仪器的精密控制程序，尤其是在微孔测试技术领域，实现了各项技术难关的突破，引发了与会专家、学者的极大兴趣，争相咨询各项技术在实际应用过程中的相关问题。钟教授都耐心的进行了解答。技术难关的相继突破和定期学术交流定会给精微高博仪器的长足发展带来更深远影响。

                                    


 

精微高博公司钟教授做学术报告
 

        此外，在同期举办的的中国粉体工业发展年会上，精微高博JW-BK232F型高精密分析仪器获得由中国粉体网和北京粉体技术协会共同颁发的“2011-2012年度优秀产品”奖，充分体现了精微高博微孔分析技术国内唯一，已赶超国际先进水平。

2011-2012年度优秀新产品奖

 

      2011年10月12日—15日，应中国分析测试协会、中国粉体网、成都精新粉体测试设备有限公司等单位的邀请，精微高博参加了在四川成都召开的第八届全国颗粒测试学术会议暨中国粉体工业发展年会。会议由中国颗粒学会颗粒测试专业委员会主任、北京粉体技术协会理事长胡荣泽教授主持，主要对颗粒测试的最新研究成果以及测试设备发展的动态进行了深入的讨论。