精微高博2011年会取得圆满成功

                                                       精微高博2011年会取得圆满成功
               2011年1月7－－9日，精微高博全体员工在四川驻京办院内召开了为期3天的年会，并取得了圆满成功。
              

                                                                                          会议现场

    年会由古经理主持，全体员工参加了此次会议。2011年是硕果累累的一年，经数据统计分析，销售量、利润等各项指标均大大超于历史同期水平；会上每人依次进行了深刻总结，并提出了2012年的工作建议和意见，彼此沟通交流，相互汲取经验，会场气氛热烈；最后，知名材料科学家钟教授就JW技术的最新进展及应用做了精彩报告，充分展现了精微高博的技术进步。JW系列仪器分析水平目前处于国内领先地位，已达到国际先进水平，完全可以替代进口仪器。精微高博为推动国产比表面及孔径分析仪的技术发展水平，促进比表面及孔径分析仪工作者在材料科学、微纳米粉体等领域的应用和发展作出了杰出贡献。