超声波探测条件的选择

       从图中可以看出，在d＜l/4范围内，随d/l的增大，耦合损耗增大，在d=l/4时耦合损耗最大。从图中还可看出，在时，耦合损耗均较大，声能透过率较小，而当时，声能透过率较大，耦合损耗较小。

       耦合层材料本身的透声性能和探测面的粗糙度也是影响耦合损耗的因素。图3–36为使用不同声阻抗耦合剂时，工件表面粗糙度对回波高度的影响，横坐标为表面粗糙度的平均高度RZ，它决定了耦合层的厚度，即d=RZ。

       由图可知，耦合剂声阻抗越大，越接近于晶片(或保护膜)和工件的声阻抗，工件表面粗糙度越小即光洁度越高，则耦合损耗越小，透声性能越好。此外，耦合损耗还与探测频率和保护膜性质有关。