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FTIR傅里叶红外在硅材料分析中的应用
点击次数：81 发布时间：2024/12/23 16:35:16
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FTIR傅里叶红外在硅材料分析中的应用
用于超高灵敏度硅材料质量控制分析的分析仪
CryoSAS 是一款低温硅材料分析仪，可用于太阳 能和电子硅行业的超高灵敏度质量控制。它可以同时定量分析碳、氧以及浅层杂质（如硼、磷、砷等）。
根据ASTM/SEMI标 准，CryoSAS操作简便，无需液氦等制冷剂。相比于传统的湿 化学分析法，CryoSAS更为快速、灵敏，并且对样品没有任何 损害。
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·对单晶硅中所含的第三、五族杂质（硼、磷、砷、铝、镓、锑） 的定量分析，检出限达ppta量级。
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·多晶或单晶硅中代位碳的定量分析，检出限达ppba量级。
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·多晶或单晶硅中间隙氧的定量分析，检出限达ppba量级。
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·全自动检测流程，自动分析数据、自动生成检测报告。
用于硅材料质量控制的低温光致发光实验
根据ASTM/SEMI MF1389标准，低温近红外光致发光（PL）实验可以用于单晶硅中浅层杂质（如硼、磷等）的定量分析。
我们将高灵敏度VERTEX 80 傅立叶变换光谱仪和专为硅材料低温光致发光实验 设计的低温恒温器相结合，实现了低检出限小于1ppta的超高检出水平。
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根据 ASTM/SEMI MF1389标准，定量分析单晶硅中的硼、磷和铝含量。 用CVD方法制备的TCS（三氯硅烷）硅外延层也可进行PL实验，以实现TCS的质量控制。
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多种附加功能，如自动控制恒温器制冷、专用的PL硅材料QC软件、标准建模样品和第二个激 发激光。
原创作者：上海尔迪仪器科技有限公司
