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重庆荧光X射线镀层测厚仪
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价格：￥电议
更新日期：2026/9/9 16:27:54
生 产 地：中国大陆
产品型号：thick8000
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谭**
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相关标签：ROHS检测仪,XRF测试仪
详细内容
本公司报道:荧光X射线镀层测厚仪技术指标
产品名称：荧光X射线镀层测厚仪
X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃
分析元素范围：硫（S）～铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层
分析含量：般为2ppm到99.9%
镀层厚度：般在50μm以内（每种材料有所不同）
SDD探测器：分辨率低至135eV
的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察：配备景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
荧光X射线镀层测厚仪镀层部分产品
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