镀金厚度测试膜厚仪@2023年终促销膜厚仪

产品说明、技术参数及配置

EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。

超高硬件配置

开放式样品腔。
采用Fast-SDD探测器,高达129eV分辨率,能解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试.高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的位。
铅玻璃屏蔽罩。
信号检测电子电路。
搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

设计亮点

上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，满足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。


软件界面

人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注，让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司