比表面积-比表面积分析仪-比表面积测试仪-比表面积测定仪-比表面积仪-北京精微高博科学技术有限公司

动态氮吸附比表面测试仪

型号：JW-DX
产品摘要：JW-DX型动态氮吸附比表面测试仪，JW发明，创新的结构，每个样品单独吸附，互不干扰，吸附峰尖锐，灵敏度大大提高，通过吸附峰直接对比得到比表面，测试准确、稳定，比表面下限降低一个数量级，适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。
竞争性吸附分析仪

型号：mixSorb系列
产品摘要：mixSorb竞争性吸附分析仪采用多组分气体对吸附剂的分离性能进行测定，*多可配置四个MFC供用户选择；可连接质谱，从而对三种以上痕量气体进行分析；具有安全防护传感器，当歧管中测试气体达到一定浓度，便发出警告；吸附柱进，出口压力均可进行检测；可进行穿透曲线的测定，PSA变压吸附实验，以及吸附动力学数据的测定。
比表面及孔隙度测量仪试仪

型号：JW-BK400
产品摘要：JW-BK400 比表面及孔隙度测量仪,国内首台真正实现四站并列独立运行的高精度BET比表面专业测定仪，搭配小量程传感器，高性能二级真空泵，测试速度快、效率高，性价比高，适合粉体材料BET比表面的快速检测。
比表面及孔隙度测试仪

型号：jw-bk300
产品摘要：JW-BK300C比表面及孔隙度测试仪，继承JW系列孔径分析仪所有技术特点，自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用品牌，配备有“涡轮分子泵”及1torr小量程压力传感器，配合微孔分析模型的准确应用，完全实现了微孔的精确分析，氮吸附微孔小孔径实际可测达0.35nm
真密度测定仪

型号：JW-M100
产品摘要：精微高博公司JW-M100真密度测定仪，能快速、高精度测量各种粉体、块体等固体材料的真体积及真密度，样品室体积范围1cm3-100cm3，平均完成一次分析约需3min，测试效率高，非常适合质检的快速分析。
比表面及介孔分布测定仪

型号：JW-BK400
产品摘要：比表面及介孔分布测定仪重要硬件全部采用品牌，产品综合性能完善，测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同等仪器水平，性价比极高，非常适合中大型企事业单位纳米粉体材料介孔大孔的快速检测。

北京精微高博

中国氮吸附仪的开拓者

北京精微高博科学技术有限公司（JWGB Sci & Tech Ltd.）成立于2004 年，是知名材料科学家钟家湘教授领衔创建的，是集研发、制造、销售、服务于一体的国家级技术企业，专业从事比表面及孔径分析仪、全自动真密度仪、气体选择性吸附仪、蒸汽吸附仪等物性分析设备的研究，被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”，是我国纳米新材料表征和测试仪器的领航者。公司总部坐落于北京经济技术开发区。

关于我们

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比表面测试在医药行业的应用