用光谱仪进行元素分析时，当某一元素的谱线用来测量含量，其附近有一条谱线影响时，干扰校准是必须的。如果光谱仪分辨率不能消除这条线的影响，则它将受到“干扰”，即元素的谱线，测量含量显著增加，原因是存在一个叠加光强值。下面介绍下元素干扰的预防。

    由于存在谱线的重叠现象，光谱仪生产厂家在制造选择谱线时尽量避开有干扰的元素，消除或减少这种干扰。

    元素干扰的预防方法有以下两种：

    1、在待测材料中选择不受干扰的谱线。例如，测量低含量铝时，可选择两条灵敏线，Al线394.4nm和396.1nm。其中396.1nm比较灵敏，但受Mo的干扰。因此，往往选择Al394.40nm用来测量钢铁中低含量的Al。一般光谱仪生产厂家都是根据基体材质的情况选择合适的谱线。

    2、用分辨率较大的光谱仪。一般长焦距仪器可具有更大的分辨率，对同一级光谱仪来讲，一台3m的光谱仪分辨率比1m光谱仪更大，但3m或2m光谱的焦距比1m光谱仪更大。这样，产生的问题是占据较大的空间，光学系统不够稳定，到达光电倍增管的光强也弱。为了克服这些问题选用衍射光栅的二级谱线。二级谱线的分辨率是一级光谱的两倍。例如入射狭缝为25µm，出射狭缝宽度为88µm，其一级光谱的分辨率为0.0375nm，其二级光谱为0.0188nm。若入射狭缝宽度为10µm，其二级光谱的分辨率为0.0058nm。

    一般来讲随着光谱的级数增加，能量逐渐降低。在不是闪耀区域，二级谱线的强度，只是一级光谱强度的0.25倍。选用刻线为1440条/mm凹面光栅这是光谱波长范围和分辨率的主要因素。光谱仪包括了全部待测元素灵敏的波长。一级谱线波长范围346.0-767.0nm，其中包括Na、Li、K的灵敏线。并在光学设计上没有附加光路，波长愈长，干扰愈小。二级光谱波长范围是173.0-383.5nm，包括P、S、B等元素在其区域的灵敏线。此区域有发射光谱较佳的谱线和较好的分辨率。

        炉前快速碳硅分析仪，以上为光谱分析中元素干扰及预防干扰的相关介绍，做好这些工作，对于提高光谱分析的准确度具有重要意义。

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2016.12.14

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