性能指标: 熔点测量范围：室温至320℃ 测量重复性：≤ 200℃： ±1℃，＞200℃： ±2℃ 光学放大倍数：目镜10X，物镜4X
熔点测量范围：室温至320℃ 测量重复性：≤ 200℃： ±1℃，＞200℃： ±2℃ 光学放大倍数：目镜10X，物镜4X
特点：测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之熔点测定，显微镜观察。既可用毛细管示测定，又可用载玻片－盖玻片法(热台法)测定。 熔点测量范围：室温至320℃ 测量重复性：≤ 200℃： ±1℃，＞200℃： ±2℃ 光学放大倍数：目镜10X，物镜4X
性能指标: 熔点测量范围：室温至320℃ 测量重复性：≤ 200℃： ±1℃，＞200℃： ±2℃ 光学放大倍数：目镜10X，物镜4X
特点： 控制单元采用16位微处理芯片，使计算速度更快实时性更好。实现了数字化温度控制调节，可任意设定起始温度，可选择不同的线性升闻速率。通过数字滤波技术增强了抗干扰性。可以自动纪录初熔、终熔温度。
主要技术参数： 熔点测量范围：室温至320°C
最小读数值：0.1°C
测量重复性：±1°C（在<200°C时）
±2°C（在200°C-300°C时）
线性升温速率： 0.5，1，1.5，3（°C/min）
显微镜：4倍物镜，10倍目镜
仪器重量：4kg
仪器尺寸：215×170×410（mm）
·40X·室温至320℃·≤ 200℃： ±1℃，＞20...
特点：测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之熔点测定，显微镜观察。既可用毛细管示测定，又可用载玻片－盖玻片法(热台法)测定。 熔点测量范围：室温至320℃ 测量重复性：≤ 200℃： ±1℃，＞200℃： ±2℃ 光学放大倍数：目镜10X，物镜4X
特点：测定物质的熔点。熔点测量范围：室温至320℃ 测量重复性：≤ 200℃： ±1℃，＞200℃： ±2℃ 光学放大倍数：目镜10X，物镜4X
技术参数：熔点测量范围室温至于320度，温度显示最小示值0.1度，测量重复性：±1度±2度，线性升温速率0.5度，1.5度，显微镜：4倍物质镜，10倍目镜。
WRX-1S显微热分析仪(显微熔点仪)(程控、数显)用途：显微热分析仪是显微镜下研究、测定物质热特性的设备，它既可作为微量样品的熔点测定、切片样品的熔点测定，又司进行主物工程的热力学研究，在医学、化工、合成纤维、生物学、矿物学、犯罪学等领域均有广泛的应用。 特点：采用带有数码目镜的显微镜,不仅可以用一般目镜,且可应用的彩色CCD通过电视机或显示器(由客户自备)研究、测定物质热特性。温度程序控制，数显读数，工作范围宽，样品量小，操作方便主要技术参数：型号WRX-1S温度范围室温～300℃温度数显最小示值0.1℃线性升温速率0.2,0.5,1.0,1.5,2.0,3.0,4.0,5.0(℃/min)控温重复性0.2℃起始温度设定度±1℃电源AC220±22V 50±1Hz质量(净重)12.6kg标准配置：配电视机数码目镜：1/2” 彩色CCD，480TV选购配置：配计算机数码目镜：1/3” 彩色CMOS 图像分辨率：640×480订货信息货号产品名称主要技术参数备注单价(元)123616WRX-1S显微热分析仪 (显微熔点仪)(程控、数显)范围:室温～300℃，重复性:0.2℃，最小读数单位0.1℃附投影生物显微镜、CCD，显示部分选购23900.00