CMI900(X射线镀层测厚仪)
名称: X-RAY荧光测厚仪 型号: ECO (普通型)和ComPact5(经济型) 厂家: 德国Roentgenanalytik公司 特点: 无损单、双、三层镀层的厚度测量 容易对焦镀层厚度和成分同时分析 /合金定量分析 十字叉丝带点状试样指示器 镀液定量分析 用能X射线转换器使测量时间缩短 现代化技术领先的软件 安全性高,使用寿命长 用外部打印格式和数据储存进行精密统计计算 多层镀层系统的厚度和成分分析 软件 μ-MasteR 厚度测量值的评估软件 Fun-MasteR 非标基本元素校准软件 Element-MasteR 快速、简便的定性分析软件 %-MasteR 可达8种元素的量化软件 LiQuiD-MasteR 电镀液分析软件 Data-MasteR 数据处理软件 Report-MasteR 客户化的报告软件 技术数据 电源: 110伏或230伏 60赫兹或50赫兹 样件台: 100mm(长)×85mm(高)×60mm(深) 仪器尺寸: 450mm(长)×400mm(高)×650mm(深) 式样室: 60mm(长)×350mm(高)×380mm(深) X-射线管: 带钨阳极的高功率管(空冷) X-射线源: 40千伏,电流1毫安 辐射安全: 配合测试标准AnlageII,Abs.3 经PTB试验
13923457025 许先生
我司专业从事各类膜厚测试仪的销售,拥有十数年行业经验,为广大客户提供高质低价的检测设备。
主要经营产品:
* 德国宏德牌Rontgenfluoreszenz X射线镀层测厚仪及元素分析仪(总代理)无论是很大的汽车部件、卫浴器具,还是很小的半导体支架,接插端子,金银首饰,五金工件,我们都一一有理想的仪器去进行测量,适合塑胶电镀,五金电镀,首饰电镀,化学电镀等各类电镀层,真正做到无需标准片亦能完成测量,绝对是节省成本的好帮手。(特价18万/台,期3个月,产品进口)
* 金相显微镜及测量软件套装(自己开发)绝对超值,适合各类电镀层,膜层及材料分析,可拍照,存档,发Email,添加附注,打印图片等等。
* 金相切片系列制作设备及各类耗材经济实用,配套完善
*世界名厂二手X射线镀层测厚仪,适合五金电镀首饰电镀,化学电镀等(现货供应)
本司所售产品,均由本司实行终身维护保养,热诚欢迎各方有识人士合作代理。更多详情敬请光临公司网站:http://www.leader-hk.com.hk
美国MATRIX手提式X射线镀层测厚仪
美国MATRIX手提式 X射线镀层测厚仪 全球款手提式 X-射线镀层测厚仪 这一款手提式测厚仪,在大型材料及各种形状配件镀层厚度的无损检测上有着明显的优势。 具备“批量测试”模式,即一次可以测量出一批小样品的总镀层厚度及平均镀层厚度 可广泛应用于建筑材料,电子,镀金行业及公证/检测机构的镀层检测。
配置说明: 微型银或钨X-射线管,5个准直器。
检测器:半导体高分辩率的检测器。
电源供应:包含两块可充电锂电池和充电器。
操作温度:-10 ~50摄氏度
FP软件测试包:测镀层薄膜厚度及金属元素分析
我们的经营理念是:
1.我们以公平的价格提供质量的仪器。
2.对顾客提供的服务和极好的最适合的设备。
3.顾客提出的建议和新想法,将被我们采纳并作为我们未来的事务。
4.我们的目标和战略是与企业建立并且连续性的合作伙伴。
十多年来,我们一直服务于PCB 厂商、电镀行业、科研机构及半导体生产等电子行业。我们提供的高质量产品和质服务都得到顾客的奖励,在未来,我们将继续履行顾客的期望、要求和需要,愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图!
一、X射线镀层测厚仪的概述。
1.即放即测!2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量!4.通过样品整体图像更方便选择测量位置!
二、X射线镀层测厚仪的图片。
三、日本日立仪器制X射线镀层测厚仪的介绍。[SFT110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。
四、X射线镀层测厚仪的参数。
韩国MicroPioneer XRF-2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪
产品介绍
X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。
XRF-2000 系列分为以下三种: 1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。 2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。 3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。 应用 : 测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )。 行业 : 五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。 特色 : 非破坏,非接触式检测分析,快速精準。 可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。 相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告 。 全系列独特设计样品与光径自动对準系统。 标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。 準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。 移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差 。 独特2D与3D或任意位置表面量测分析。 雷射对焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。
光学2 0X 影像放大功能,更能精确对位。
单位选择: mils 、 uin 、 mm 、 um 。 优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的最佳优势。 仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。 测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号
Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪
是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,
其物点为:高分辨率,固态探测器; 可分析超薄样品
分析有害物质,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;
可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析;
电镀溶液分析;
定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;
贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);
自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;
性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器
仪器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)
可测量样器大小:W550mm D550mm H30mm
产品介绍: Ux-320新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 Ux-320微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。 X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 Ux-320镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。 样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。 设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。 软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
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EC-770是一款铁基/铝基一体式涂层测厚仪,可广泛应用于多种涂镀层的厚度测量,让您在生产中简单,快速,正确判断,研发更节省成本,操作简易,大屏设计,携带方便,很有科技感;是您进行涂镀层厚度无损检测的必备工具
本仪器具有待测材料自动识别功能,可自动识别铁磁材料并选择铁基模式进行,如测量钢质/铁质/导磁合金材料表面油漆或镀层厚度,若待测金属为非磁性材质,仪器将自动选择铝基模式,如测量铜/铝/锌/锡等材料的油漆/氧化膜/塑料厚度,本仪器的另一大特点是:图形菜单操作界面,让您更加方便快捷的设置和操作;并且可以进行不间断连续测试,满足了快速线性寻找产品镀层缺陷的要求。可替代时代TT210TT220TT260等使用
涂层测厚仪EC-770宇问研发的EC-770涂层测厚仪为工程师量身定做,是精密测量专家;广泛运用在涂层,油漆,电镀,渗碳热处理,五金,建材,来料检测,汽车轮船飞机制造等
主要特点
EC-770涂层测厚仪,能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密双探头,利用电磁感应和涡流效应,全自动探测基材属性,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。同时,测量数据可分组保存,并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多点校准。全新的多点校准和零校准,让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单,确保您非常容易的使用它。
详细介绍
EC-770镀层测厚仪特点:A.大点阵液晶屏,标准化菜单操作;B.两种测量模式:单次(Single)和连续(Continuous);C.两种组模式:直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组。直接组关机后数据自动全部清除。通用组数据将自动保存,关机不丢失。每组可存储80个数据;D.可零校准和多点校准(最多四点)。各组有单独的零校准和多点校准,组与组之间不影响;E.用户可随时查看当前工作组已测得的数据,并删除指定数据或整组数据;F.实时显示当前工作组统计值:平均值(Mean),最小值(Min),最大值(Max),标准方差(Sdev);G.三种探头模式:自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(EddyCurrent);H.可为各组单独设置高低限报警值,超限时屏幕指示报警;I.可开启或关闭自动关机功能J.USB接口可传输通用组数据到计算机K.低电和错误提示
主要指标:
DT-156涂镀层测厚仪库号:RL075922 | EC-770镀层测厚仪库号:RL075949 |
EC-770镀层测厚仪库号:RL075949 | EC-770镀层测厚仪库号:RL075949 |