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薄膜四探针方阻电阻率测试仪的技术指标

产品属性本产品采购属于商业贸易行为

薄膜四探针方阻电阻率测试仪的技术指标FT-330

企业档案

宁波瑞柯微智能科技有限公司

11 营业执照已上传

企业类型:生产商

公司地址:宁波市江北区慈城镇张嘉路91弄9号三楼

主营产品:粉体物性测试仪,粉末堆密度仪,粉末电阻率测试仪,休止角测定仪,安息角测定仪,休止角测试仪,粉体松装密度测定仪,粉末振实密度仪,斯柯特容量计,霍尔流速计,堆积密度测定仪,粉体特性综合测试仪,粉末流动性测试仪,表观密度测定仪,粉体剪切测试仪,电压降检测仪,表面电阻率测试仪,导体电阻率测试仪,四探针测试仪,方阻测试仪,体积电阻率测试仪,表面和体积电阻测试仪

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产品简介

薄膜四探针方阻电阻率测试仪的技术指标
采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,优于同类仪器精度.特别是方块电阻值较小的

详细内容

公司简介

薄膜四探针方阻电阻率测试仪的技术指标

一.描述Description

采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,优于同类仪器精度.特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

Using the Vanderbilt measuring principle can improve the influence and error of external factors on measurement results,such as the geometric size of sample and boundary effect. probe not equidistant and moving machinery. And is superior to similar precision instruments. especially the product measurement of square resistance which value smaller . more accurate. Provide communication interface. PC software data processing and data analysis. In Chinese or English languages
薄膜四探针方阻电阻率测试仪的技术指标.

.满足标准standard

硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

silicon resistivity measurements of international standards (ASTM F84) and national standard design and manufacture of the equipment is designed in accordance with GB/T 1551-2009 "Method of determination of silicon single crystal resistivity” GB/T 1552-1995. Silicon and germanium single crystal resistivity to determine DC  four probe method".
薄膜四探针方阻电阻率测试仪的技术指标

.适用范围Applicable scope

适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析半导体材料质量的必备工具;液晶显示,自动测量和系数补偿,并带有温度补偿功能,自动转换量程;采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便;选配:PC软件,保存和打印数据,生成报表

suitable for manufacturing enterprises. colleges and universities and scientific research. are the necessary tools for testing and analyzing the quality of semiconductor materials.Liquid crystal display. automatic measurement and coefficient compensation. with temperature compensation function. automatic conversion range.High precision AD chip control. constant current output. reasonable structure and light weight. Optional to buy: PC software. save and print data. generate reports

广泛用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

It is widely used in:

Covering membrane;Conductive polymer film. high and low temperature electric film.Insulation. anti-radiation conductive film (shielding) cloth. decorative film. decorative paper.Metallized labels and alloy foil films.Smelting. sintering. sputtering. coating. Coating layer. resistive. capacitive touch screen.Electrode coating. other semiconductor materials. thin-film material square resistance testing.

Silicon block. chip resistance rate and diffusion layer. epitaxial layer. ITO conductive foil. conductive rubber materials such as square resistance semiconductor materials/wafer. solar cells. electronic components. conductive film (ITO conductive film glass. etc.). metal film. conductive film. aluminium film evaporation. PCB copper foil membrane. EMI coating materials such as Conductive fiber. conductive ceramics. Etc

.型号及技术参数Models and technical parameters

规格型model

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方块电阻范围Sheet resistance

10-52×105Ω/□

10-42×105Ω/□

10-32×105Ω/□

10-32×104Ω/□

10-22×105Ω/□

10-22×104Ω/□

2.电阻率范围Resistivity

10-62×106Ω-cm

10-52×106Ω-cm

10-42×106Ω-cm

10-42×105Ω-cm

10-32×106Ω-cm

10-32×105Ω-cm

测试电流范围

Test current

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100mA

10μA100µA1mA10mA100mA

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100mA

10μA100µA1mA10mA

100mA

0.1μA1μA10μA100µA1mA10mA100mA

1μA10μA100µA1mA10mA100mA

4.电流精度 Current accura

±0.1%

±0.2%

±0.2%

±0.3%

±0.3%

±0.3%

5.电阻精度Resistance

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.显示读数display

液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity

7.测试方式test mode

普通单电测量general single electrical measurement

8.工作电源power

输入: AC 220V±10%.50Hz 耗:<30W

9.误差errors

整机不确定性Machine uncertain errors≤4%(标准样片结果 Standard Sample results

10.选购功能choose to buy

选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻

1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform.

11.测试探头Test probe

探针间距选购:1mm2mm3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针Optional probe spacing: 1mm2mm3mm in three sizes.

Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.

配套方案:解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状电阻、电阻率、电导率测量

ROOKO瑞柯品牌-------专注于新材料测量与分析仪器解决方案  

----解决材料:导体、半导体、绝缘材料常温及高温等环境下电性能分析.

----我们一直在做:研发、生产、销售、租赁、实验室样品分析及后延扩展服务


关键词:四探针方阻电阻率测试仪  四探针电阻率测试仪  表面电阻测试仪  

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