北京时代TT220涂层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
z 可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
z具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
z具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
z具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
z 设有五个统计量：平均值（MEAN）、值（MAX）、*小值（MIN）、
测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
z具有米、英制转换功能；
z具有打印功能，可打印测量值、统计值；
z具有欠压指示功能；
z操作过程有蜂鸣声提示；
z具有错误提示功能；
z具有自动关机功能。
| 测头类型 | F | |
| 测量原理 | 磁感应 | |
| 测量范围 | 0-1250um | |
| 低限分辨力 | 1µm（10um以下为0.1um） | |
| 探头连接方式 | 一体化 | |
| 示值误差 | 一点校准（um） | ±[3%H+1] |
| 两点校准（um） | ±[（1～3）%H+1] | |
| 测量条件 | *小曲率半径（mm） | 凸 1.5 凹9 |
| 基体*小面积的直径（mm） | ф7 | |
| *小临界厚度（mm） | 0.5 | |
| 温湿度 | 0~40℃ 20%RH～90%RH | |
| 统计功能 | 平均值（MEAN）、值（MAX）、*小值（MIN）、 测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV） | |
| 工作方式 | 直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl） | |
| 测量方式 | 连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE） | |
| 上下限设置 | 无 | |
| 存储能力 | 15 个测量值 | |
| 打印/连接计算机 | 可选配打印机/不能连接电脑 | |
| 关机方式 | 自动 | |
| 电源 | 二节3.6V镍镉电池 | |
| 外形尺寸 | 150×55.5×23mm | |
| 重量 | 150g | |
标准配置
z标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
z铁基体
z充电器
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