HAST高压蒸煮仪产品简介：
HAST/HALT试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。高压加速老化试验箱采用新优化设计，美观大方、做工精细，对应 IEC60068-2-66 条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。
HAST高压蒸煮仪试验标准：
GB/T2423.40-2013电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热
IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热
JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命
JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）
JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）
JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命
JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验
JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽
HAST高压加速老化试验箱
◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
◆采用高效真空泵，使箱内达到佳纯净饱和蒸汽状态。
◆采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。
◆汽车硅胶整体密封条，气密性好，耐用。
◆全自动补水功能,置式水位确认。
◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为：干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式
HAST（Highly Accelerated Stress Test）高压蒸煮仪是一种用于测试电子元件、电路板和封装材料的可靠性和耐久性的设备。它模拟了端环境条件下的高温、高湿度和高压力。
HAST高压蒸煮仪的工作条件通常如下：
温度：在HAST测试中，高温是一个重要的因素。通常，温度设定在110°C至135°C之间，具体取决于被测试物料的要求和标准。
湿度：高湿度是HAST测试中的另一个关键条件。湿度设定在85%至100% RH（相对湿度）之间，以模拟潮湿环境。
压力：HAST测试中还需要施加一定的压力，以增加水分在高温环境下的透入和反应速率。通常，压力设定在2至4大气压之间。
时间：HAST测试的持续时间会根据所需的测试目标和标准而有所不同。一般而言，测试持续时间在48小时至2000小时之间。
需要注意的是，HAST高压蒸煮仪的工作条件可以根据具体的测试要求和标准进行调整和定制。不同的行业和产品可能有不同的要求，因此在进行HAST测试之，需要根据相关标准和规范来确定适当的工作条件。
关键词：HAST高压蒸煮仪 高压蒸煮仪 HAST蒸煮仪
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