扫描电子显微镜（SEM）产品及厂家
德neaspec真空太赫兹波段近场光学显微镜hv-thz-neasnom，该套系统成功地继承了德国neaspec公司thz-neasnom的设计优势，采用专利保护的双光路设计，完全可以实现真空环境下太赫兹波段应用的样品测量。hv-thz-neasnom在实现30nm高空间分辨率的同时，由于采用0.1-3thz波段的时域太赫兹光源（thz-tds），也可以实现近场太赫兹成像和图谱的同时测量。
更新时间:2024-05-09
日本jeol 能量色散型x射线荧光分析仪 jsx-1000s，采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（fp法・检量线法）、rohs元素筛选功能等。利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更广泛的分析。
更新时间:2024-05-09
jsm-it800shl 是日本电子株式会社（jeol） 2020 年新推出的场发射扫描电镜，它秉承 jeol 热场发射扫描电镜 jsm-7900f 的大束流，高稳定性的传统，同时将分辨率提高到新的限，全新设计的超混合型物镜，高分辨率的获得以及磁性样品的观察都可以同时完成，而且标配 jeol 新开发的 neo
更新时间:2024-05-09
德国zeiss蔡司聚焦离子束扫描电镜fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新时间:2024-05-09
ksi i-ingot型全自动晶锭分析检测系统,适用于对晶锭的无损检测，有了它，晶锭内部的裂缝或杂质就能得到快速检测，晶锭的尺寸可达450mm，检测时间短，也不需要做其它设定。
更新时间:2024-05-09
德国ksi i-wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统，在ksi i-wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检测
更新时间:2024-05-09
日本jeol扫描电子显微镜 jsm-it200 intouchscope ，是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。使用初学者易懂的样品交换导航，可以轻松地从样品台搜索视野并开始观察sem图像。zeromag能像光镜一样直观地搜索视野，live analysis*2可以不用特意分析就能实时获取元素分析结果，smile viewtm lab能综合编辑观察和分析报告等。
更新时间:2024-05-09
日本jeol扫描电子显微镜 jsm-it500hr，采用新开发的高亮度电子枪和透镜系统，可以更迅速便捷地提供令人惊叹的高分辨率图像、高灵敏度和高空间分辨率；从设定视野到生成报告，利用完全集成的软件大大地提高了作业速度。
更新时间:2024-05-09
日本jeol 离子切片仪 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6°）的氩离子束通过遮光带照射样品，大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也好，对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。
更新时间:2024-05-09
日本jeol截面样品抛光仪ib-19530cp，采用多用途样品台，通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座，不仅能截面刻蚀，还可以进行平面刻蚀、离子束溅射镀膜等。
更新时间:2024-05-09
日本jeol低温冷冻离子切片仪ib-09060cis，冷却保持时间长，有效地抑制了热损伤。易受热损伤的样品，也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。
更新时间:2024-05-09
日本jeol 截面样品抛光仪 ib-19520ccp，在加工过程中利用液氮冷却，能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下，也能将样品快速冷却、恢复到室温，并且可以拆卸。配有传送机构，在隔离空气的环境下能完成从加工到观察的全过程。
更新时间:2024-05-09
日本jeol 电子探针显微分析仪 jxa-ihp100，可以安装通用性强、使用方便的能谱仪x射线探测器，组合使用wds和eds，能提供无缝、舒适的分析环境。
更新时间:2024-05-09
日本jeol 软x射线分析谱仪，通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度ｘ射线ccd相机，实现了高的能量分辨率。 和eds一样可以并行检测，并且能以0.3ev(费米边处al-l基准)的高能量分辨率进行分析，超过了wds的能量分辨率。
更新时间:2024-05-09
日本jeol截面样品制备装置ib-19530cp，采用多用途样品台，通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座，不仅能截面刻蚀，还可以进行平面刻蚀、离子束溅射镀膜等。
更新时间:2024-05-09
日本jeol 聚焦离子束加工观察系统 jib-4000，配置了高性能的离子镜筒(单束fib装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行sim观察 、研磨，沉积碳和钨等材料。还可以为tem成像制备薄膜样品，为观察样品内部制备截面样品。通过与sem像比较，sim像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异，这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。
更新时间:2024-05-09
日本jeol 双束加工观察系统 jib-4700f，该设备的sem镜筒中采用了超级混合圆锥形物镜、gb模式和in-lens检测器系统，在1kv低加速电压下,实现了1.6nm的保证分辨率,与最大能获得300na探针电流的浸没式肖特基电子枪组合，可以进行高分辨率观察和高速分析。
更新时间:2024-05-09
超声扫描显微镜（sat）是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可有效满足新能源、半导体、电力电子、热管理材料、金刚石复合材料、碳纤维复合材料等行业需求。
更新时间:2024-05-09
日本电子扫描电子显微镜jcm-700强大的"zeromag"功能，让您从光学显微镜的观察方式，轻松的无缝接轨到扫描电镜的影像观察。"live analysis"则实现了sem影像观察时实时的eds成份分析。
更新时间:2024-05-09
table-sem (台式扫描电子显微镜)主要功能 1) 大放大倍率15万倍 2) top-view ccd 相机 - navigation mode : 样品原图像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5轴 - recipe function : 分析位置储存后再分析功能 4) b type : se (二
更新时间:2024-05-07
table-sem (台式扫描电子显微镜)主要功能 1) 大放大倍率15万倍 2) top-view ccd 相机 - navigation mode : 样品原图像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5轴 - recipe function : 分析位置储存后再分析功能 4) b type : se (二
更新时间:2024-05-07
日立tm4000ⅱ扫描电镜独特的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。 tm4000ⅱ优化提供5kv、10kv、15kv、20kv四种不同电压下的观察模式，每种模式下电流4档可调，并配备4分割背散射探测器，可采集四个不同方向的图像信息，对样品进行多种模式成像。具有全新的sem-map导航功能，同时，电镜图片可以报告形式导出。配备大型样品仓，可容纳大样品直径80mm，厚度50mm。
更新时间:2024-05-07
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型钨灯丝扫描电镜，具有体积小、操作简单、性能强、扩展功能丰富等特点。flexsem1000 ii配备了二次电子探测器和背散射电子探测器，可以观察样品的形貌和成分；同时具有低真空功能，可以直接观察不导电样品和含水样品；配合新增的sem-map光镜导航和5轴样品台可以快速、高效的完成观察任务。
更新时间:2024-05-07
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜世界最高二次电子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的flashing操作，可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。 特点： 1. 新型
更新时间:2024-05-07
s-3400n扫描电子显微镜 s-3400n具有最新开发的电子光学系统，强大的自动化功能，操作更简易。 特点: 1. s-3400n具有强大的自动功能，包括自动灯丝饱和、4偏压、自动枪对中、自动束流设定、 自动合轴自动聚焦和消像散、自动亮度对比度等。 2. 在3kv低加速电压时
更新时间:2024-05-07
s-3700n 多功能分析型可变压扫描电镜 研究超大，超重，超高样品的分析型扫描电镜 ● 最大可载样品直径达300mm ●最大观察区域直径达203mm ● 在观察110mm高样品时可进行能谱分析 ● 样品室设置多种接口，可安装eds、wds、ebsd和cl等多种分析用附件 ● 5轴优中心马达台可以倾
更新时间:2024-05-07
日立tm4000ⅱ扫描电镜独特的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。 tm4000ⅱ优化提供5kv、10kv、15kv、20kv四种不同电压下的观察模式，每种模式下电流4档可调，并配备4分割背散射探测器，可采集四个不同方向的图像信息，对样品进行多种模式成像。具有全新的sem-map导航功能，同时，电镜图片可以报告形式导出。配备大型样品仓，可容纳大样品直径80mm，厚度50mm。
更新时间:2024-05-07
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型钨灯丝扫描电镜，具有体积小、操作简单、性能强、扩展功能丰富等特点。flexsem1000 ii配备了二次电子探测器和背散射电子探测器，可以观察样品的形貌和成分；同时具有低真空功能，可以直接观察不导电样品和含水样品；配合新增的sem-map光镜导航和5轴样品台可以快速、高效的完成观察任务。
更新时间:2024-05-07
日立tm4000ⅱ扫描电镜独特的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。 tm4000ⅱ优化提供5kv、10kv、15kv、20kv四种不同电压下的观察模式，每种模式下电流4档可调，并配备4分割背散射探测器，可采集四个不同方向的图像信息，对样品进行多种模式成像。具有全新的sem-map导航功能，同时，电镜图片可以报告形式导出。配备大型样品仓，可容纳大样品直径80mm，厚度50mm。
更新时间:2024-05-07
zem15扫描速度快，信号采集带宽10m，可以在视频模式下流畅实时的显示样品。只需鼠标就可完成所有操作，不需对中光阑等复杂步骤，聚焦消像散后可直接拍图。主机集成高压及控制系统，体积小巧，便于移动，可出差携带，安装无需特殊环境，只需找一张桌子，供电就可工作。
更新时间:2024-04-29
覃思科技提供各种型号的优质和创新的样品座、载网、校准标样、靶材、碳棒、碳绳、工具、银导电胶、碳胶带、铜胶带、储存盒、真空密封等各种耗材器具，欢迎新老客户咨询下单！
更新时间:2024-04-28
覃思科技提供各种型号的优质和创新的样品座、载网、校准标样、靶材、碳棒、碳绳、工具、银导电胶、碳胶带、铜胶带、储存盒、真空密封等各种耗材器具，欢迎新老客户咨询下单！
更新时间:2024-04-28
荷兰asi出品的tpx3cam是一款用于光学光子时间戳的快速光学相机。它基于一种新型硅像素传感器，并结合了timepix3 asic和读出芯片技术，适用于电子、离子或单光子等需要时间分辨成像的各种应用
更新时间:2024-04-28
美国tergeo em等离子清洁仪用于电子显微镜tergeo em型sem及tem样品/样品杆清洁用等离子清洁仪.为去除sem & tem样品的碳氢污染而设计。特有的双清洗模式（immersion和downstream）能够处理各种不同的样品，从严重污染的电子光学孔径光阑到各种脆弱易损样品，如石墨烯、碳纳米管、类金刚石碳膜以及多孔碳支持膜铜网上的tem样品。
更新时间:2024-04-28
多用途等离子处理腔室_tem & sem样品清洁及贮存解决方案通过选配外部附件如：em-kleen远程控制等离子源和/或tem样品杆适配器，多用途腔室可配置成不同的应用。em-kleen远程等离子体源可以采用空气、氧气或氢气产生氧和氢自由基，用于样品清洁和表面活化。如果腔室配备了tem样品杆适配器，则可接受和清洁来自thermo fisher、jeo
更新时间:2024-04-28
电镜腔等离子清洁仪（远程等离子清洁仪）美国pie出品的em-kleen型远程等离子清洁仪，广泛用于sem扫描电镜,fib聚焦离子束双束电镜,tem透射电镜,xps_x射线光电子能谱分析仪,ald原子层沉积系统,cd-sem, ebr, ebi, euvl和其它高真空系统，可同时清洁真空腔室和样品！
更新时间:2024-04-28
q150v plus是一款高真空应用的超精细镀膜设备，其限真空度为1x10-6mbar。 结合使用宽量程潘宁规和皮拉尼规，可以溅射具有超细成膜颗粒尺寸的易氧化金属，适用于高分辨率成像。 更低的背底负压去除了腔室中的氧氮和水汽，避免在溅射过程中发生化学反应以及在镀膜过程中产生的杂质或缺陷。
更新时间:2024-04-28
“tm4000”和“tm4000plus”可简化从样品观察、图像确认到生成报告等一系列操作过程，大幅提高了工作效率。还标配了报告生成功能，观察结束后可十分轻松地将拍摄的图像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的报告。此外，选配项还可实现更多功能。可在样品仓内加装光学相机来拍摄照片，以往通过经验寻找目标位置*1，现在可
更新时间:2024-04-28
“regulus系列“是日立高新技术的fe-sem的全新品牌，包括作为su8010的后续机型开发的 “regulus8100“ 以及su8200系列的升 “regulus8220“ “regulus8230“ “regulus8240“，共4个机型，均实现了分辨率和操作性的强化。
更新时间:2024-04-28
在以纳米技术和生物技术为主的产业域里，从物质的微细结构到组成成分，sem在多种多样的观察与分析中得到了灵活应用。sem用途日益扩大，但对于钢铁等工业材料和汽车零配件等超大/超重样品，由于电镜样品台能对应的样品尺寸和重量受到限制，所以观察时需要进行切割等加工。因此，对超大样品不施以加工处理，便可直接观察表面微细形貌和进行各种分析则成为重要的课题。
更新时间:2024-04-28
日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜su9000是门为电子束敏感样品和需大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。
更新时间:2024-04-28
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